Führende Funktionen
- Kompletter Satz umfassender Signalanalyse-Tools
- Erweiterte Histogrammfunktionen
- Verbesserte FFT-Fähigkeiten
- Verfolgen Sie Diagramme aller Messparameter
- Trend bis zu 1 Million Ereignisse
- Persistenzfunktionen
- Parametermathematik – zwei verschiedene Parameter addieren, subtrahieren, multiplizieren oder dividieren
- Autokorrelationsfunktion
- Kubische, lineare und Sin X/X-Interpolationsfunktionen
- Schmalband-Leistungsmessungen
- Sparse-Funktion
- Bis zu 8 verschiedene mathematische Funktionen
LeCroy-Oszilloskope bieten Mess- und Analysefunktionen, mit denen Sie Ihre komplizierten Konstruktionsprobleme lösen können. Zusammen mit der X-Stream-Architektur von LeCroy, die schnelle Aktualisierungsergebnisse einer Messung oder einer Kette von Operationen liefert, bietet LeCroy viele fortschrittliche Softwareoptionen für Ihre spezifischen Anwendungen. Mit 8 einzigartigen Anzeigebereichen können Sie Signale, analysierte Funktionen, Messungen, Histogramme und Statistiken gleichzeitig anzeigen, was Ihnen den ultimativen Überblick darüber gibt, was in Ihrer Schaltung passiert.
Erweiterte mathematische Fähigkeiten
Das XMATH Advanced Math Package für LeCroy XStream-Oszilloskope bietet einen umfassenden Satz von Signal-WaveShape-Analyse-Tools, die einen Einblick in die Form komplexer Signale geben. XMATH umfasst erweiterte Histogrammfunktionen, Trend und Track, verbesserte FFT-Funktionen und Parametermathematik. Mit XMATH können Sie diese Operationen über das gesamte Signal hinweg durchführen, egal ob 250 Punkte oder 100 Millionen Wellenformpunkte.
Schnelle Fourier-Transformation (FFT)
XMATH in Verbindung mit der X-Stream-Architektur von LeCroy enthält erweiterte FFT-Funktionen, mit denen Sie eine FFT an bis zu 50 Millionen Eingangspunkten und mit 5 verschiedenen Fenstern durchführen können. Für die Frequenzleistung an einem bestimmten Punkt bietet XMATH enge Leistungsmessungen. Die Anzeige des Frequenzinhalts Ihres Signals durch die FFT-Funktion gibt Ihnen einen Einblick in potenzielle Probleme in Ihrer Schaltung. Mit der Math-on-Zoom-Funktion von LeCroy können Sie problematische Bereiche Ihres Signals heraussuchen und den Frequenzinhalt analysieren, während Sie die Live-Messergebnisaktualisierung auf dem Bildschirm sehen.
Histogramme
Ein Verständnis der statistischen Schwankungen von Parameterwerten sagt Ihnen etwas über den Bereich oder die Schwankung einer Messung. Ein gut kontrolliertes Design hat einen schmalen Mittelwert und eine schmale Verteilung der Messungen. Oft reicht es aus, die durchschnittliche, minimale, maximale und Standardabweichung des Parameters zu kennen, aber ein detaillierteres Verständnis der Verteilung der Werte eines Parameters kann einem Ingenieur helfen, anomales Verhalten in einem Design zu lokalisieren.
Parametermathematik
Ein Parameter ist ein numerisches Ergebnis, das anhand eines Signals berechnet wird. Mit XMATH können Sie mit Parametern rechnen. Sie können zwei verschiedene Parameter addieren, subtrahieren, multiplizieren oder dividieren, um die Fähigkeiten des Oszilloskops zu erweitern. Sie können beispielsweise die Spannung eines Signals messen und diese durch den Strom des Signals dividieren, um den Widerstand zu ermitteln. Mit XMATH kann das Ergebnis umbenannt und live auf dem Bildschirm angezeigt werden.
Persistenzfunktionen
XMATH beinhaltet die Fähigkeit, Persistenz-Wellenformdaten weiter zu verarbeiten. Wenn Sie beispielsweise eine neue Kurve als Mittelwert einer Nachleuchtkurve erstellen, können Sie die Daten mithilfe der Parameter auf dem Oszilloskop analysieren.
Andere Eigenschaften
XMATH gibt Ihnen auch über 20 weitere Parameter. Mit der Trendfunktion können Sie beispielsweise bis zu 1 Million Ereignisse trenden. Ein weiteres Beispiel ist die Autokorrelationsfunktion, die Ihnen hilft, Ihr periodisches Signal von Rauschen zu trennen. Alle diese Tools wurden entwickelt, um Ingenieuren dabei zu helfen, die Integrität ihres Designs effizient zu analysieren und sicherzustellen.