�z���C�g�y�[�p�[

�����炩��PDF�f�[�^���_�E�����[�h�ł��fasst��B

Anmerkung: �_�E�����[�h�ɂ̓E�F�u�o�^�i�����j���K�v�ƂȂ�܂��B

	�G���n���X�h�E�T���v�����O�E���[�g�E���[�h �v�����x	1MB
	HDO4000A�AHDO6000A�AHDO8000A�AMDA800A�I�V���X�R�[�v�ɂ����Ē�m�C�Y�V�X�e���A�[�L�e �N�`���ƁA�u���b�N-�E�H�[���ɒ������ꂽ���g�������Ƒg���� 킳�ꂽ�G���n���X�h�E�T���v�����O�E���[�g�́A�����g�̐��� �g�⍂�������オ��G�b�W�Ȃǂ̂悤�ȓ��͐M�������ɍ������g���̏ꍇ�̌v�� ���x�����I�ɉ��P���܂��B
	DesignCon 2010���\���� �\�[�X�I�[�̃������V�X�e���ɂ�����v���[�r���O �s�“\�ȓ_�ɂ�����^�C�~���O�v���̖��Ɖ�@	1.5MB
	Augenarzt���g�����o�[�`�����v���[�r���O�̊��p����������B
	���B���ʐM���ۉ�c(ECOC2009)�Ŕ��\�����_��(�p��) "56-GBaud PDM-QPSK: Kohärente Erkennung und 2,500-km-Übertragung"	155K
	�{�_���́AAlcatel-Lucent��PDM-QPSK���ϒ���p���ĂT�UGboaud�̒ʐM�̎����������؂������ ̂ł����A�v���ɂ̓��N���C�А���30GHz�ш�A80GS/s�̃T���v�����O���x��� ���WaveMaster830Zi���A���^�C���E�I�V���X�R�[�v���p���������A���N ���C�Ђ͌v���ɑ΂���T�|�[�g���s���܂����B
	SDA�����SDM�I�v�V�����̓��엝�_	500K
	�ESDA�ɂ�鑪��̊T�v �ESDA�̓��엝�_ �E�A�C�E�o�C�I���[�V�����E���P�[�^(ASDA)
	Visual Studio�ɂ��CustomDSO�v���O�C���̍쐬	2.3MB
	Microsoft��Visutal Studio�‹���Visual Basic���g�p���āA���[�U�[���J�������Ǝ��̃v���O� ����ŃI�V���X�R�[�v���J�X�^�}�C�Y����
	PCI-Express�M���̕����w�e�X�g�̐V���	1.8MB
	�A�����������r�b�g�E�V�[�P���X���g���Ă��A�X�y�N�g� ����g�U�N���b�N�̉e�����󂯂Ȃ������x�̐M���]���@ �E�N���b�N�̍Đ� „E�W�b�^��TIE�̑��� �E�A�C�p�^�[���̑���
	…	350�j
	�E�V���O���E�G���h�E�v���[�u�ɂ���ėU������镉�� �E�v���[�u�̕��ׂ��M���ɗ^����e�� �E�v���[�u���ׂɂ��M���c���]�����@
	�V���A���E�f�[�^�M���̃W�b�^�̑���	1.3MB
	�E�r�b�g�E�G���[�E���[�g(BER)�ƃW�b�^�̊֌W �E�g�[�^���E�W�b�^ �E�m�����x�֐�(PDF)�̐���@�Ȃ�

���̑�US-Whitepaper���ȉ��̂��̂��_�E�����[�h�ł��܂��B

• Erstellen Sie ein CustomDSO-Plug-In mit Visual Studio
• PXI Die branchenübliche Plattform für Fertigungstests
• Random Interleaced Sampling (RIS)
• Interpolation in Ihrem DSO
• Differentialmessungen
• Fortschritte in der Sondentechnologie zur Erfassung von Hochfrequenzsignalen
• Fortschritte in der Oszilloskop-Technologie
• Jitter-Messungen in seriellen Datensignalen
• Testen serieller Datensignale
• SDA Serial Data Analyzer und SDM Serial Data Mask Package
• Verwendung eines digitalen Oszilloskops zur Signalanalyse
• Testen der physikalischen Schicht von PCI-Express-Signalen unter Verwendung aufeinanderfolgender Bits
• Die Genauigkeit von Jitter-Messungen

@

�y�[�W�g�b�v�ɖق�