�z���C�g�y�[�p�[

�����炩��PDF�f�[�^���_�E�����[�h�ł��fasst��B

Anmerkung: �_�E�����[�h�ɂ̓E�F�u�o�^�i�����j���K�v�ƂȂ�܂��B

�G���n���X�h�E�T���v�����O�E���[�g�E���[�h
�v�����x

1MB
  HDO4000A�AHDO6000A�AHDO8000A�AMDA800A�I�V���X�R�[�v�ɂ����Ē�m�C�Y�V�X�e���A�[�L�e�N� `���ƁA�u��b�N-�E�H�[���ɒ������ꂽ���g�������Ƒg�����킳�ꂽ �G���n���X�h�E�T���v�����O�E���[�g�́A�����g�̐����g� ⍂��������オ��G�b�W�Ȃǂ̂悤�ȓ��͐M�������ɍ������g����̏ꍇ�̌v������ x������I�ɉ��P��������B  

DesignCon 2010����\����
�\�[�X�I�[�̃������V�X�e�ɂ�����v���[�r���O
�s�“\�ȓ_�ɂ�����^�C�~���O�v���̖��Ɖ�@

1.5MB
  Augenarzt���g�����o�[�`�����v���[�r���O�̊��p����������B  

���B���ʐM��ۉ�c(ECOC2009)�Ŕ��\�����_��(�p��)
"56-GBaud PDM-QPSK: Kohärente Erkennung und 2,500-km-Übertragung"

155k
 �{�_���́AAlcatel-Lucent��PDM-QPSK���ϒ���p���ĂT�UGboaud�̒ʐM�̎����������؂������ ̂ł����A�v���ɂ̓��N���C�А���30GHz�ш�A80GS/s�̃T���v�����O���x��� ���WaveMaster830Zi���A���^�C���E�I�V���X�R�[�v���p�����Ă���A���N��� C�Ђ͌v���ɑ΂���T�|�[�g���s���܂����B 

SDA�����SDM�I�v�V�����̓��엝�_

500k
 �ESDA�ɂ�鑪��̊T�v
�ESDA�̓��엝�_
�E�A�C�E�o�C�I���[�V�����E���P�[�^(ASDA)
 

Visual Studio�ɂ��CustomDSO�v���O�C���̍쐬

2.3MB
 Microsoft��Visutal Studio�‹���Visual Basic���g�p���āA���[�U�[���J�������Ǝ��̃v���O� ����ŃI�V���X�R�[�v���J�X�^�}�C�Y���� 

PCI-Express�M���̕����w�e�X�g�̐V���

1.8MB
 �A�����������r�b�g�E�V�[�P���X���g���Ă��A�X�y�N�g� ����g�U�N���b�N�̉e�����󂯂Ȃ������x�̐M���]���@
�E�N���b�N�̍Đ�
„E�W�b�^��TIE�̑���
�E�A�C�p�^�[���̑���
 

350�j
 �E�V��O��E�G��h�E�v���[�u�ɂ���ėU������镉��
�E�v���[�u�̕��ׂ��M���ɗ^����e��
�E�v���[�u���ׂɂ��M���c���]�����@
 

�V���A���E�f�[�^�M���̃W�b�^�̑���

1.3MB
 �E�r�b�g�E�G���[�E���[�g(BER)�ƃW�b�^�̊֌W
�E�g�[�^���E�W�b�^
�E�m�����x�֐�(PDF)�̐���@�Ȃ�
 

���̑�US-Whitepaper���ȉ��̂��̂��_�E�����[�h�ł������B

  • Erstellen Sie ein CustomDSO-Plug-In mit Visual Studio
  • PXI Die branchenübliche Plattform für Fertigungstests
  • Random Interleaced Sampling (RIS)
  • Interpolation in Ihrem DSO
  • Differentialmessungen
  • Fortschritte in der Sondentechnologie zur Erfassung von Hochfrequenzsignalen
  • Fortschritte in der Oszilloskop-Technologie
  • Jitter-Messungen in seriellen Datensignalen
  • Testen serieller Datensignale
  • SDA Serial Data Analyzer und SDM Serial Data Mask Package
  • Verwendung eines digitalen Oszilloskops zur Signalanalyse
  • Testen der physikalischen Schicht von PCI-Express-Signalen unter Verwendung aufeinanderfolgender Bits
  • Die Genauigkeit von Jitter-Messungen
@

�y�[�W�g�b�v�ɖق�

�Z�~�i�[����i�I�V���X�R�[�v����ҁj

�y�Z�p������z������\�I�V���X�R�[�v�̐^��

�y�A�ځz�p��[���[�^�E�h���C�u�̊�b���发

�p���[�G���N�g���j�N�X��̓\�����[�V����

Produktressourcen