- �����̃T�C�N���ɓn��M���̌v�����x�[�X�ɂ������v���ʂɂ�鍂���M �����ƁA���͂ȏ����\�͂ƍœK�����������ɂ�鍂����������DDR3�C���^� [�t�F�[�X�����̍œK�Ȏ�@
- ���[�X�g�P�[�X�̑����ʂ����|�[�g���ɔg�`�̐M�����Ɠd�����x �������ēY�t����̂ŁA�}�[�W���̊m�F���e��
- Stopontest/failure�@�\�ɂ��A����̃e�X�g�Ŏ����𒆒f���āA���̏�ŕs�ǂ̉�͂�v�����ʂ̂ �荂�x�ȉ�͂��“\
- 800MHz�A1066MHz�A1333MHz�A1600MHz����єC�ӂ̑��x��DDR3�M���ɑΉ�
- JEDEC�d�l�FJESD79-3D�ɋK�肳��Ă��鎎�����ڂɏ���
�Z���\/ő����̃T�C�N����̃��^��͂��鏈���\�͂������炷�����M�� ���̎���
DDR3�M���̎����ł͔��ɑ��l�Ȍv�����s��Ȃ���Ȃ�Ȃ������łȂ��A���ɑ ����̃T�C�N���ɓn��M����Ώۂɂ��Ȃ���Ȃ�܂���B����������ʂ̃f�[�^ ������Z���!s�����Ƃ��ł���ƁA�ق炦������l�̃��[�X�g�P�[�X� ̐M�����������Ȃ�܂��B�����̏ꍇ�AQPHY-DDR3�́A���̌v���\�����[�V���� ��100�‚̌v�����s���\/ɐ���̌v�����������邱�Ƃ��ł��܂��B���̂��Ƃ́A ���\/������ĉ��x���J��!��v�����s���̂Ɠ����M������1��̌v� ��ōς�ł��܂����Ƃ��Ӗ����A�傫�ȏȗ͉��ɂ‚Ȃ���܂��B
��i�̃f�o�b�O�@�\
QPHY-DDR3��"Stopp bei Test"�@�\���g���ƁA�e�������I���x�Ɏ����̎��s�𒆒f�� �܂��B���̎��_�ŁA�\�t�g�E�F�A���v���������̕ۑ����w����� �̂ŁA��������ۑ�����A�s�nj�����T�邽�̂ɁA�I�V���X�R�[�v�̉�͋ @�\���g���Ď��R�Ƀf�o�b�O���邱�Ƃ��ł��܂��B���̋@�\�ɂ�SDAII�V ���A���E�f�[�^��͋@�\�AEyeDoctorII�V�O�i���E�C���e�O���e�B�E�c �[���AWaveScan�g�`�����@�\�A�q�X�g�O������g���b�N�Ȃǂ̓��v��͋@ �\�Ȃǂ����p�ł��܂��B�����̉�͋@�\���g���ƁA�s�ǂƂ��̕s�ǂƑ��ւ̂�� 錻�ۂ��ȒP�Ɍ��‚��邱�Ƃ��ł��܂��B�f�o�b�O��Ƃ��I������ƁA“OK“� {�^�����������ƂŁA�����̎��s���p�����čs�����Ƃ��ł��܂��B

�N���b�N����
JEDEC�d�l���ɂ���ċK�肳�ꂽ�S�ẴN���b�N���������s���܂��B�����̍ ��ڂɂ�durchschnittliche Taktperiode, absolute Taktperiode, durchschnittliche High/Low-Pulsbreite, absolute High/Low-Pulsbreite, Halbperioden-Jitter, Taktperioden-Jitter, Zyklus-zu-Zyklus-Perioden-Jitter ��kumulativer Fehler über n Periode�� �܂܂����܂��B

�d�C����
�����Ŏ����������́ASRQ�����ŁA�f�[�^�A�X�g���[�u����уN���b �N�M���̃X�����[����C�g���v�����fasst��B2M�|�C���g�̐M������������������������������������������������������ �����A���̒��̑S�Ẵ��[�h�E�o�[�X�g�����肳��܂��B���̒��őS� Ă̗����オ��G�b�W���v�����fasst��B���̗�ł�9,000�ˆȏ�̃X�����[�E��� C�g�̌v�����s���܂����B��̉�ʂ̂悤�ɁA���[�X�g�P�[�X�̉�ʂ��\� �����܂��B�����“Stopp bei Test“�@�\���g���āA�������������邳��Ȃ�� ͂��s�����Ƃ��ł��܂��B

�^�C�~���O����
�����Ŏ����������́AtDQSCK�����ŁA�N���b�N����X�g���[�u�o�͂̃A�N �Z�X�E�^�C�����v�����fasst��B�d�C�����Ɠ��l��2M�|�C���g� ̐M���ّ����s���A���[�h�E�o�[�X�g�����肳��܂��B���̒��̑S� ẴX�g���[�u�ƃN���b�N�̎��!����v������܂��B���̗�ł́A10,000�‚�tDQSCK� ��v������܂����B��̉�ʂ̂悤�ɁA���[�X�g�P�[�X�̉�ʂ��\������ ܂��B����1�{�v���[�u���g���āA�s�nj����Ƌ^����M����̑��� ��̂��f�o�b�O�ł͂悢���@�ł��B

�A�C�p�^�[��
�A�C�p�^�[���́A�V���A���E�f�[�^�M���̃f�o�b�O�ɂ����Ĕ� �ɋ��͂ȃc�[���ł��BQPHY-DDR3�ł́A�A�C�p�^�[�������[�h�E�o�[�X�g�A �܂��̓��C�g�E�o�[�X�g����`�悷�邱�Ƃ��ł���̂ŁA�f�[�^�M���Ƀ ��V�[�o���G���[�Ȃ��ǂƎ���̂ɕK�v�ȃV�O�i���E�C���e�O���e�B �����邩�ǂ������m�F���邱�Ƃ��ł��܂��B����ɁA�f�[�^�M���ƃX� g���[�u�M���̃A�C�p�^�[�����^�C�~���O�ŕ\�������āA�X� g���[�u�̃^�C�~���O�������邱�Ƃ��ł��܂��B

QualiPHY�ł́A�����̃v���Z�b�g���ꂽ�R���v���C�A���X�������ڂ̃Z�b�g� ��p�ӂ���Ă��܂����A �V�����Ǝ��̎������ڂ̃Z�b�g����邱�Ƃ��A� Z�b�g���ꂽ�������ڂ𐧌����邱�Ƃ��ł��܂��B

�O���t�B�J���Ȍ����}�́A���̎����ɕK�v�ȑ��u�̐ڑ��Ȃǂ��w����� ܂��B

�R���v���C�A���X�E���|�[�g�́A�v�����ꂽ�S�Ă̒l�A ���̎���� ̕]����ƁA���������s�����Ƃ��̉�ʏ����fasst��̉�ʏ����fasst �R���v���C� A���X�E���|�[�g�́AHTML�APDF�܂���XML�Ƃ��č쐬���邱�Ƃ��ł��܂��B

QualiPHY
QualiPHY�́A�����V���A���E�o�X�ŃR���v���C�A���X��������m���� �Ȃ��Ƃ��A�Z���!������������������������������������������������������������������������������������������������������
- �E�B�U�[�h�@�\�ɂ��A�e�X�g�菇���i�r�Q�[�g���fasst��B
- �K�肳�ꂽ�菇�ɏ]���Ċe�X�̑�����s���fasst��B
- �e�X�̌v���l��Ή�����K�i�̋��e�͈͂Ɣ�r���Ĕ��肵 �܂��B
- �S�Ă̑��茋�ʂ��܂Ƃقă��|�[�g���쐬���܂�
- QualiPHY�Ȃ�A���‚ł����������@�Ŏ��������s�ł��fasst��B
QPHY-DDR3�������ڂ̎d�l
Uhrentests
tCH(avg), Durchschnittliche hohe Impulsbreite
tCL(avg), durchschnittliche niedrige Impulsbreite
tJIT(Duty), Halbperioden-Jitter
tCK(avg), Durchschnittliche Taktperiode
tJIT(pro), Taktperioden-Jitter
tJIT(cc), Cycle-to-Cycle-Periode-Jitter
tERR(n pro), kumulativer Fehler
tCK(abs), absolute Taktperiode
tCH(abs), Absolute Clock High Impulsbreite
tCL(abs), Niedrige Impulsbreite des absoluten Taktgebers
Erweitertes Debuggen
Augendiagramm von Daten und Strobe auf Lesezyklus
Augendiagramm von Daten und Strobe auf Schreibzyklus
Timing-Tests
tDQSQ, DQS-DQ-Versatz für DQS und zugehörige DQ-Signale
tQH, Haltezeit des DQ/DQS-Ausgangs von DQS
tDQSS, DQS verriegelt ansteigende Übergänge mit der zugehörigen Taktflanke
tDSS, DQS Fallende Flanke zu CK Setup-Zeit
tDSH, DQS Haltezeit der fallenden Flanke von CK
tDQSCK, DQS-Ausgangszugriffszeit von CK/CK #
tDS(Basis), DQ- und DM-Eingangs-Setup-Zeit
tDH(Basis), DQ- und DM-Eingangshaltezeit
�y�[�W�g�b�v�ɖق�