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QPHY-PCIe

Die Teledyne LeCroy QPHY-PCIe-Testlösung bietet eine automatisierte Steuerung für Teledyne LeCroy-Oszilloskope zur Durchführung der gesamten Sender-Physical-Layer-Tests, wie in der Card Electro-mechanical Specification Rev 1.1 und 2.0 beschrieben

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Merkmale
  • Entspricht der Card Electro-mechanical Specification Rev. 1.1 und 2.0
  • Unterstützung für System- und Zusatzkartentests
  • Integrierte SigTest-Bibliotheken in der Oszilloskop-Software ermöglichen die Automatisierung der genauen Algorithmen, die für Konformitätstests verwendet werden
  • Verbindungsdiagramme zeigen die ordnungsgemäße Einrichtung unter Verwendung der PCI-SIG-Compliance-Basisplatinen und -Compliance-Ladeplatinen.
  • Die Berichterstellung umfasst CEM-Testaussagen für 2.5 Gbit/s, 5.0 Gbit/s mit 3.5 dB Deemphasis und 5.0 Gbit/s mit 6.0 dB Deemphasis
  • Einfaches und benutzerfreundliches automatisiertes Testen

Die Teledyne LeCroy QPHY-PCIe-Testlösung bietet eine automatisierte Steuerung für Teledyne LeCroy-Oszilloskope zur Durchführung der gesamten Sender-Physical-Layer-Tests, wie in der Card Electro-mechanical Specification Rev 1.1 und 2.0 beschrieben

Die Testanforderungen für Systemplatinen und Zusatzkarten werden in der Spezifikation beschrieben. QPHY-PCIe kann die Konformität gemäß der Spezifikation sowohl für Systemplatinen als auch für Zusatzkarten testen.

Durch die Integration der SigTest-Bibliotheken in die Oszilloskop-Software kann QPHY-PCIe alle erforderlichen Konformitätstests vollständig automatisieren, wobei genau dieselben Algorithmen verwendet werden, die in der Spezifikation beschrieben sind.

Darüber hinaus kann QPHY-PCIe alle 2.5-GT/s-Tests ausführen, dann alle 5.0-GT/s-Tests mit 3.5-dB-Deemphasis-Tests und schließlich alle 5.0-Gt/s-Tests mit 6.0-dB-Deemphasis-Tests . Dadurch kann der Benutzer einen Testbericht für alle 3 Testphasen erstellen.

Diese Fähigkeiten machen QPHY-PCIe zu einer umfassenden automatisierten Testsuite, die die Anforderungen für 2.5 GT/s- und 5.0 GT/s-PCI-Express-Sender-Compliance-Tests erfüllt.

Integrierte SigTest-Bibliotheken

Durch die Integration der SigTest-Bibliotheken in die Oszilloskop-Software werden exakt die von der PCI-SIG bereitgestellten Algorithmen zur Berechnung der Ergebnisse verwendet. Dadurch wird dieselbe genaue Antwort wie beim Ausführen des eigenständigen SigTest-Dienstprogramms mit dem zusätzlichen Vorteil sichergestellt, dass dieses Dienstprogramm innerhalb der Oszilloskop-Software ausgeführt werden kann.

Umfassende und leicht lesbare Testberichte

Messergebnisse müssen oft zusammengefasst und tabelliert werden, um Spezifikationen schnell zu überprüfen. Diese Informationen führen zusammen mit den Setups für Instrument und Signalerfassung/Testbedingungen zu einer vollständig dokumentierten Aufzeichnung. QPHY-PCIe rationalisiert diesen Prozess, indem es eine Engine zur automatischen Generierung von HTML-Berichten integriert. Die erstellten Testberichte enthalten tabellarische Zahlenwerte für jedes einzelne Testergebnis, einschließlich PASS/FAIL- und Spezifikationsgrenzen-Spalten. Berichte können auch als PDF, HTML oder XML gespeichert werden.

Erweiterte Debug-Fähigkeit

Wenn ein Konformitätsfehler gefunden wird, steht das serielle Datenanalysepaket SDA II von Teledyne LeCroy zur Verfügung, um die Ursache schnell und einfach zu finden. SDA II kann Augen- und Jitter-Messungen gleichzeitig durchführen und ist vollständig in die Anwendungssoftware des Oszilloskops integriert. Darüber hinaus bietet SDA II mit speziellen Funktionen wie IsoBER, ISI-Plot, Pj Inverse FFT und mehreren Jitter-Modellen Einblick in die gemessenen Augen- und Jitter-Parameter, wodurch die Ursachen von Problemen leichter identifiziert werden können.

Die Analysesoftware Eye Doctor II ermöglicht es dem Benutzer, sein Signal nach Continuous Time Linear Equalization (CTLE), Feed Forward Equalization (FFE) und/oder Decision Feedback Equalization (DFE) anzuzeigen. Dies gibt dem Benutzer die Möglichkeit zu sehen, wie ein tatsächlicher Empfänger, der eine Entzerrung verwendet, sein Signal interpretieren würde.

Die Analysesoftware SDA II von Teledyne LeCroy enthält eine integrierte Jitter- und Timing-Analyse für Takt- und Datensignale. Es ermöglicht die Analyse von Daten bis zur Speichergrenze des Oszilloskops und mit der X-Stream II-Technologie kann SDA II Augendiagramme und Jitter-Zerlegungsergebnisse bis zu 50-mal schneller anzeigen als andere Lösungen. Zusätzlich kann der spezifische PLL für PCI Express aus einer Liste vorkonfigurierter PLLs ausgewählt werden. Schließlich enthält SDA II zwei getrennte Methoden zur Jitter-Zerlegung; die Industriestandard-Spektralmethode und die NQ-Skalen-Methoden. Die NQ-Skala ist entscheidend für die richtige Unterscheidung zwischen zufälligem und deterministischem Jitter in Systemen, in denen Übersprechen vorhanden ist.

Darüber hinaus ermöglicht die Analysesoftware Eye Doctor II auch die Kanalemulation. Für PCIe-Tests führt ein Entwicklungsingenieur seine serielle Datenmessung am Ausgang des Senders durch. Die Analyse auf der anderen Seite eines seriellen Referenzdatenkanals ist jedoch sehr nützlich zum Debuggen von Problemen. Um dies zu erreichen, können sie entweder einen physischen Kanal verwenden, um ihre Messung nach dem Kanal durchzuführen, oder sie können die Kanalemulation verwenden, um zu sehen, was ihre seriellen Daten sind Signal so aussehen würde, als ob es durch den Kanal übertragen worden wäre.

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QPHY-PCIe-Testabdeckung

2.5 GT/s-Signalqualitätstest Mittleres Einheitsintervall
Max. Einheitsintervall
Min. Einheitsintervall
Mindestzeit zwischen Übergängen
Datenrate
RMS-Jitter pro Kante
Durchschnittlicher Median-zu-Peak-Jitter
Max. Median bis Peak-Jitter
Min. Median bis Peak-Jitter
Mittlerer Peak-to-Peak-Jitter
Max. Peak-to-Peak-Jitter
Min. Peak-to-Peak-Jitter
Mindestübergangs-Augenspannung (kein Übergang).
Maximale Augenspannung für Übergang (kein Übergang).
Minimaler Übergangs-Augenspannungsbereich (kein Übergang) über dem Auge
Maximaler Übergangs-Augenspannungsbereich (kein Übergang) unter dem Auge
5.0 GT/s-Signalqualitätstest Mittleres Einheitsintervall
Mindestzeit zwischen Übergängen
Datenrate
Max. Peak-to-Peak-Jitter
Gesamtjitter bei BER von 10e-12
Deterministischer Jitter Delta-Delta
Zufälliger Jitter (RMS)
Mindestübergangs-Augenspannung (kein Übergang).
Maximale Augenspannung für Übergang (kein Übergang).
Minimaler Übergangs-Augenspannungsbereich (kein Übergang) über dem Auge
Mindestübergang (kein Übergang) Augenspannungsspielraum unter dem Auge
Maskenverletzungen Übergang (kein Übergang) Auge
 
Empfohlene Oszilloskope (für 5.0-GT/s-Tests)
13–16 GHz, 40 GS/s, 4 Kanäle, 20 Mpts/Kanal Serieller Datenanalysator mit 15.3"-WXGA-Farbdisplay. 50 Ω- und 1 MΩ-Eingang*WaveMaster 813Zi, 816Zi
20, 25, 30 GHz, 80 GS/s, 2 Kanäle, 40 Mpts/Kanal Serieller Datenanalysator mit 15.3"-WXGA-Farbdisplay. 50 Ω- und 1 MΩ-Eingang (16 GHz, 40 GS/s, 4 Kanäle, 20 Mpts/ CH)*WaveMaster 820Zi, 825Zi, 830Zi (SDA- und DDA 8 Zi-Oszilloskope werden ebenfalls unterstützt)
 
Empfohlenes Oszilloskop (für 2.5 GT/s-Tests)
6 GHz, 20 GS/s, 4 Kanäle, 10 Mpts/Kanal (40 GS/s und 20 Mpts/Kanal im Interleaved-Modus) mit 50 Ω und 1 MΩ Eingang*WavePro 760Zi (SDA- und DDA 7 Zi-Oszilloskope werden ebenfalls unterstützt)
 
Erforderliche Ausrüstung nicht von Teledyne LeCroy erhältlich
PCI-SIG-Compliance-Basisplatine (nur zum Testen von 5.0 GT/s-Zusatzkarten) CBB2
PCI-SIG Compliance Load Board (nur für 5.0GT/s x4 oder x 8 Lane Systemtests)  x4/x8CLB2
PCI-SIG Compliance Load Board (nur für 5.0GT/s x1 oder x 16 Lane Systemtests) x1/x16CLB2
PCI-SIG-Compliance-Basisplatine (nur zum Testen von 2.5 GT/s-Zusatzkarten) CBB1  
PCI-SIG Compliance Load Board (nur für 2.5GT/s-Systemtests)CLB1
SMA- oder SMP-Terminatoren für jeden unbenutzten SMA-Anschluss an CBB oder CLB