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DDR-Debug-Toolkit

Das DDR Debug Toolkit bietet Test-, Debug- und Analysewerkzeuge für den gesamten DDR-Designzyklus. Die einzigartigen DDR-Analysefunktionen bieten eine automatische Lese- und Schreib-Burst-Trennung, Burst-Daten-Jitter-Analyse und DDR-spezifische Messparameter.

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Merkmale
  • Lese-/Schreib-Burst-Trennung per Knopfdruck
  • Gleichzeitige Analyse von vier verschiedenen Messansichten
  • Zeigen Sie bis zu 10 Augendiagramme mit Maskentests und Augenmessungen an
  • Durchsuchbare Busstatusansichten mit intuitiven farbcodierten Overlays
  • Führen Sie eine Jitter-Analyse zur Ursachenanalyse durch
  • Konfigurieren Sie DDR-spezifische Messungen schnell
  • Analysieren Sie bestimmte Regionen von Bursts mit konfigurierbaren Qualifizierern
  • Support for DDR2/3/3L/4/5 and LPDDR2/3/4/4X/5
  • Wählen Sie Standard- und benutzerdefinierte Geschwindigkeitsstufen aus
Mühelose Lese-/Schreib-Burst-Trennung

Trennen Sie Lese- und Schreib-Bursts mit dem DDR Debug Toolkit automatisch, wodurch der zeitaufwändige Prozess der manuellen Burst-Identifizierung entfällt und die Analyse der DDR-Systemleistung und -validierung vereinfacht wird. Bursts können basierend auf der DQ-DQS-Phase oder basierend auf dem Befehlsbus getrennt werden, wenn es in Verbindung mit dem HDA125 verwendet wird.

Bis zu 10 Augendiagramme gleichzeitig anzeigen

Das DDR Debug Toolkit kann auf Knopfdruck schnell bis zu 10 Augendiagramme gleichzeitig erstellen und anzeigen. Die visuelle Inspektion und Analyse von Seite-an-Seite-Augendiagrammen kann wertvolle Skew- und Timing-Informationen liefern. Die Wahl von CK oder DQS als Timing-Referenz bietet zwei verschiedene Blickwinkel auf die Systemleistung.

Augendiagrammanalyse

Jedes DQ-, DQS- oder Befehls-/Adresssignal kann gegen eine standardmäßige oder eine benutzerdefinierte Maske getestet werden. Das Aktivieren von Maskenfehlerindikatoren identifiziert automatisch alle Maskenverletzungen und lokalisiert die spezifische Benutzeroberfläche, an der eine Maskenverletzung aufgetreten ist. Integrierte Messungen wie Augenhöhe, Augenbreite und Augenöffnung sind entscheidend, um ein quantitatives Verständnis der Systemleistung zu erhalten. Mit gleichzeitigen Augenmessungen ist es einfach, die Leistung über mehrere Testansichten hinweg zu vergleichen.

DDR-Jitter-Analyse

Geplatzte DDR-Signale schaffen unerwünschte Komplikationen und Herausforderungen für herkömmliche serielle Datenanalyse- und Jitter-Tools, die eine Analyse von DQ-, DQS- und Adresssignalen verhindern. Jitter-Parameter einschließlich Tj, Rj und Dj werden über alle aktiven DDR-Messansichten hinweg berechnet. Um ein tieferes Verständnis der Jitter-Verteilung zu erlangen, stehen herkömmliche Anzeigen wie TIE-Histogramme, TIE-Track und Badewannenkurven zur Verfügung.

DDR-spezifische Parameter

Mit einer DDR-spezifischen Toolbox mit Parametern ist es einfach, aufschlussreiche Messungen zur Validierung, Charakterisierung und Fehlerbehebung schnell zu konfigurieren. Bis zu 12 konfigurierbare Messungen können gleichzeitig in allen aktiven Messansichten angezeigt und analysiert werden. Für jede Messung können erweiterte Statistiken wie Min., Max., Mittelwert und Anzahl der Messinstanzen angezeigt und mit der durchsuchbaren Zoomfunktion leicht gefunden werden.

Vier Messansichten

Bei der Konfiguration einer Messung kann jeder Ansicht unabhängig ein zu analysierendes Signal zugewiesen werden, was eine umfassende Flexibilität für die Analyse bietet. Beispielsweise ist es einfach, einen Vergleich der Systemleistung zwischen Lese- und Schreib-Burst-Operationen über mehrere DQ-Lanes hinweg einzurichten. Die gleichzeitige Analyse von bis zu vier Messansichten vereinfacht den Messvorgang und beseitigt Bedenken hinsichtlich unsynchronisierter Messungen.

Referenzansicht für Optimierungstests

Die Referenzansicht ermöglicht Ingenieuren die einfache Durchführung von Leistungsoptimierungs- oder Optimierungstests. Der Benutzer kann jede Ansicht in einer Referenzansicht speichern und dann eine Änderung an seinem Setup vornehmen, um eine Änderung der Leistungsmerkmale zu beobachten. Messungen können jederzeit der Referenzansicht hinzugefügt oder daraus entfernt werden, sodass Sie sich keine Sorgen darüber machen müssen, dass alle Analyseparameter zu Beginn des Tests definiert sind.

Analysieren Sie isolierte Bereiche von Bursts

Mithilfe integrierter konfigurierbarer Qualifizierer kann die gesamte Analyse im DDR Debug Toolkit so gesteuert werden, dass die ersten „n“ Bits eingeschlossen oder ignoriert werden. Dies ermöglicht ein tiefes Verständnis der Leistung des Systems unter bestimmten Bedingungen. Beispielsweise kann diese Art der Analyse verwendet werden, um Erkenntnisse darüber zu gewinnen, wie das System aus der Präambel heraus oder ausschließlich mitten im Burst-Betrieb funktioniert.