Merkmale
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Automatisiert die DisplayPort 2.0 Source PHY Compliance Test Specification (CTS)
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Automatisierte Sink-Kalibrierung und PHY-Compliance-Tests mit Anritsu MP1900A
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Multi-Lane-Tests bieten die schnellsten verfügbaren Tests
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Unterstützt USB-C, Std/Enhanced DP und mDP TPA-Testvorrichtungen und AUX-Controller-Automatisierung
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Anschlussdiagramme helfen sicherzustellen, dass Sie beim ersten Versuch die richtige Konfiguration erhalten
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Die QualiPHY-Berichterstellung erstellt umfassende Berichte mit allen Testinformationen
Quellenprüfung
QPHY-DP20-SOURCE SW automatisiert alle Source-Tests wie in DisplayPort 2.0 PHY CTS für ultrahohe Bitraten (UHBR10, UBRB13.5 und UHBR20) mit Multi-Lane-Compliance-Tests für 1, 2 oder 4 Lanes definiert. Ebenfalls enthalten ist QPHY SW für DisplayPort 1.4a (RBR, HBR, HBR2 und HBR3) Datenraten. Ideal für hochvolumige Testlabore, die LabMaster 10 Zi-A kann Ergebnisse auf zwei DisplayPort 2.0-Spuren gleichzeitig erfassen, analysieren und melden, wodurch Benutzereingriffe reduziert und die schnellsten Testzeiten erreicht werden.
Multi-Lane-Tests und erweiterte Analyse
SDAIII-CompleteLinQ zeigt während des Tests alle vier Spuren an und liefert Echtzeit-Feedback zur PHY-Signalintegrität. Die Multi-Lane-Analyse kann auch verwendet werden, um den Signalpfad von TP2 zu TP3EQ zu visualisieren, um die Auswirkungen des eingebetteten Kabels, CTLE und DFE auf das Quellsignal zu analysieren. Zur weiteren Analyse von Jitter-Quellen kann jede Spur einfach so konfiguriert werden, dass sie statistische und spektrale Jitter-Zerlegung anzeigt.
Sink-Test
QPHY-DP20-SINK SW bietet automatisierte Kalibrierung und Konformitätstests für DisplayPort 2.0-Datenraten unter Verwendung des MP1900A.
Kalibrierung des Senkenkanals
Während der Sink-Kalibrierung muss das ISI kalibriert werden. Die Einfügungsdämpfung (IL) des zum Testen verwendeten DisplayPort-Kabels liegt innerhalb der CTS-Grenzwerte; dann wird die Gesamtkanal-IL des Kanals kalibriert. Der WavePulser 40iX Der Hochgeschwindigkeits-Interconnect-Analysator bietet kostengünstige 4-Port-40-GHz-S-Parameter-Messungen in einem kleinen Formfaktor, der auf demselben Prüfstand zugänglich ist.