• LPDDR4- und LPDDR4X-Testabdeckung wie in JESD209-4D, JESD209-4-1A beschrieben
• Testgeschwindigkeiten bis zu 4266 MT/s
• Führen Sie die automatisierte Einhaltung der elektrischen JEDEC-Anforderungen durch
• Wiederholbarkeit, Konsistenz und Genauigkeit der Messungen
• Speichern Sie Pass/Fail-Berichte mit kommentierten Screenshots
• Analysieren Sie Compliance-Fehler in einem speziellen Debug-Toolkit

Die LPDDR4/4X-Spezifikationen folgen DDR4 in der Aufteilung des Taktjitters in zufällige und deterministische Komponenten. Takttests messen und vergleichen die durchschnittliche und absolute Taktperiode, die durchschnittliche und absolute High-/Low-Impulsbreite, die maximale Perioden- und Zyklus-zu-Zyklus-Jitter, den kumulativen Fehler über n Perioden, die Anstiegsgeschwindigkeit, differentielle und unsymmetrische Eingangsspannungen sowie Überschwingen/Unterschwingen (Spitze und Fläche).

Augendiagrammtests messen die Daten- (DQ) und DQS-Augendiagramme (Strobe) von Lese-/Schreibimpulsen. Dabei wird der horizontale und vertikale Abstand zwischen der JEDEC-spezifizierten Empfangsmaske und dem Augendiagramm für Schreibimpulse gemessen und Messwerte für Leseimpulse zurückgegeben. Zusätzlich werden Messungen zwischen der Empfangsmaske und dem Befehlsadresssignal durchgeführt.

Die in den JEDEC-Standards für LPDDR4/4X definierten differentiellen und unsymmetrischen Anstiegsgeschwindigkeiten messen jede steigende und fallende Flanke innerhalb eines Schreibvorgangs. Elektrische Tests messen die Anstiegsgeschwindigkeit an jedem Übergang über alle Schreibvorgänge hinweg in einer einzigen Messung, um in kurzer Zeit statistisch genaue Ergebnisse zu liefern. Weitere Tests umfassen die Messung von Überschwingen und Unterschwingen der CA/DQ/DQS-Signale (Spitzenwert und Fläche), differentielle und unsymmetrische DQS-Eingangsspannungen sowie Anstiegsgeschwindigkeitsmessungen von Lesevorgängen.

Die Timing-Tests für LPDDR4/4X messen die zeitlichen Zusammenhänge zwischen Daten-, Strobe- und Taktsignalen während Lese- und Schreibvorgängen. Präambel-/Postambelzeiten und die minimale Impulsbreite werden ebenfalls getestet.

Automatisierte DDR-Compliance-Tests ermöglichen schnellere Testzeiten durch Reduzierung von Inkonsistenzen, Tests nach dem JEDEC-Standard und schnelles Anhalten bei Fehlern, die die Ursache verursachen, durch das DDR Debug Toolkit.

• Führt den Benutzer durch jeden Testaufbau
• Führt jede Messung gemäß dem entsprechenden Testverfahren durch
• Vergleicht jeden gemessenen Wert mit den geltenden Spezifikationsgrenzen
• Dokumentiert alle Ergebnisse vollständig in einem gespeicherten PDF mit Messanmerkungen
• QualiPHY 2 hilft dem Benutzer, Tests immer richtig durchzuführen!