8A350197-63B6-4AE9-A506-E97B9573E47A
Erstellt mit sketchtool.
Menü
Produkte & Angebote
Produkte & Angebote
Nach Kategorie
Nach Kategorie
Oszilloskope
Oszilloskope
Tastköpfe
Elektronische Messgeräte
TDR und S-Parameter
LCR-Messgeräte
Datenerfassung
Digitale Multimeter
Stromversorgungen
Arbiträre Signalgeneratoren
Elektronische Lasten
Logikanalysatoren
Spektrumanalysatoren
Vektor-Netzwerkanalysator
Milli-Ohm-Meter
Leistungsmessgeräte
Protokoll-Analysatoren
CCIX
Compute Express Link (CXL)
Ethernet
Fibre Channel
Gen-Z
MIPI (CSI, DSI und UFS)
NVM Express
NVMe-oF
Open Compute-Projekt (OCP)
PCI Express
Serial-ATA (SATA)
Serial-Attached-SCSI (SAS)
USB / Thunderbolt 3 & 4
Video (HDMI, DisplayPort)
Wireless (Bluetooth, 802.11, 802.15.4)
Modulare Datenerfassung
Digitzier
Signalgeneratoren
Erweiterungsmodule
Sensoren und Kalibratoren
DMS-Dienste
Produkte und Dienstleistungen für die Ventilprüfung
Drehmomentsensoren und Kraftmessdosen
Automobil-Drehmomentprüfung
Produkte und Kalibratoren für Drehmomentschlüssel
Dienstleistungen
Tests und Schulungen von Protokolltechnologie
Interoperabilitätstests für Geräte und Automobilbereich
Ventiltestdiagnose / Gerätevalidierung / DMS-Kalibrierung
Akademie für Signalintegrität
SSD-Gerätetest
SSD-Testlösungen
Nach Anwendung
Nach Anwendung
Memory
CCIX
CXL
DDR/LPDDR
Gen-Z
Mil/Aero/Avionik
ARINC 429
MIL-STD-1553
RAUMDRAHT
Peripherals
Thunderbolt
USB & USB-C
Video
DisplayPort
HDMI
HDCP
HDBaseT
Wireless
Bluetooth
Thread (802.15.4)
Wi-Fi
Netzwerke
Ethernet
PCI Express
PCIe
Kodierungsschemata
8b/10b
64b/66b
Manchester
NRZ
Automobil
Automotive Ethernet
CAN/CAN FD/J1939
FlexRay
LIN
Manchester
MOST50/150
SENT
Embedded
10/100/1000Base-T
Audio (I2S, LJ, RJ, TDM)
DDR/LPDDR
I2C
I3C
SPI
UART-RS232
USB2-HSIC
Storage
Fibre Channel
NVMe
NVMe-oF
SAS/SATA
SSD
UFS / M-Phy
MIPI
C-PHY
D-PHY
M-PHY
DigRF3G
DigRFv4
I3C
UniPro
Power Management
PMBus
SMBus
SPMI
USB PD
Motoren und Antriebe
Motoren und Antriebe
Power Integrity
Power Integrity
Oszilloskope
Oszilloskope
Tastköpfe
Elektronische Messgeräte
TDR und S-Parameter
LCR-Messgeräte
Datenerfassung
Digitale Multimeter
Stromversorgungen
Arbiträre Signalgeneratoren
Elektronische Lasten
Logikanalysatoren
Spektrumanalysatoren
Vektor-Netzwerkanalysator
Milli-Ohm-Meter
Leistungsmessgeräte
Protokoll-Analysatoren
CCIX
Compute Express Link (CXL)
Ethernet
Fibre Channel
Gen-Z
MIPI (CSI, DSI und UFS)
NVM Express
NVMe-oF
Open Compute-Projekt (OCP)
PCI Express
Serial-ATA (SATA)
Serial-Attached-SCSI (SAS)
USB / Thunderbolt 3 & 4
Video (HDMI, DisplayPort)
Wireless (Bluetooth, 802.11, 802.15.4)
Modulare Datenerfassung
Digitzier
Signalgeneratoren
Erweiterungsmodule
Sensoren und Kalibratoren
DMS-Dienste
Produkte und Dienstleistungen für die Ventilprüfung
Drehmomentsensoren und Kraftmessdosen
Automobil-Drehmomentprüfung
Produkte und Kalibratoren für Drehmomentschlüssel
Dienstleistungen
Tests und Schulungen von Protokolltechnologie
Interoperabilitätstests für Geräte und Automobilbereich
Ventiltestdiagnose / Gerätevalidierung / DMS-Kalibrierung
Akademie für Signalintegrität
SSD-Gerätetest
SSD-Testlösungen
Memory
CCIX
CXL
DDR/LPDDR
Gen-Z
Mil/Aero/Avionik
ARINC 429
MIL-STD-1553
RAUMDRAHT
Peripherals
Thunderbolt
USB & USB-C
Video
DisplayPort
HDMI
HDCP
HDBaseT
Wireless
Bluetooth
Thread (802.15.4)
Wi-Fi
Motoren und Antriebe
Motoren und Antriebe
Netzwerke
Ethernet
PCI Express
PCIe
Kodierungsschemata
8b/10b
64b/66b
Manchester
NRZ
Automobil
Automotive Ethernet
CAN/CAN FD/J1939
FlexRay
LIN
Manchester
MOST50/150
SENT
Embedded
10/100/1000Base-T
Audio (I2S, LJ, RJ, TDM)
DDR/LPDDR
I2C
I3C
SPI
UART-RS232
USB2-HSIC
Storage
Fibre Channel
NVMe
NVMe-oF
SAS/SATA
SSD
UFS / M-Phy
MIPI
C-PHY
D-PHY
M-PHY
DigRF3G
DigRFv4
I3C
UniPro
Power Integrity
Power Integrity
Power Management
PMBus
SMBus
SPMI
USB PD
Ressourcen
Ressourcen
Software Downloads
Technische Bibliothek
Videos
Veranstaltungen & Schulungen
Blog
Unterstützung
Unterstützung
Technischer Service / Kalibrierung
Training
Technischer Support
RoHS & WEEE
Kaufen
Kaufen
Tastköpfe und Zubehör für Oszilloskope
Protokollanalysatoren und Zubehör
Zertifizierte Gebrauchtgeräte
Preise anfordern
Kontakt
Melde dich bei dir an
Teledyne Lecroy-Konto
Anmelden
Englisch
Deutsch
Französisch
Italienisch
日本語
한국어
Vereinfachtes Chinesisch
繁體中文
Zurück zur
WaveMaster / SDA / DDA 8 Zi-B-Oszilloskope
>
Ressourcen
>
White Papers
White Papers
Ein Echtzeit-Digitalisierungssystem für Wellenformen mit einer Bandbreite von 30 GHz und einer Abtastrate von 80 GS/s
Eine einfache Methode zur Schätzung des wahren Jitters für Perioden-, Skew-, Halbperioden- und Zyklus-Zyklus-Jitter
Version: 1.0
All-ETDM 80-Gbaud (160-Gb/s) QPSK-Erzeugung und kohärente Erkennung
Taktwiederherstellungsmethoden für die Jitter-Analyse
Version: 1.0
Konfigurierbare Protokolldecodierung von Manchester- und NRZ-codierten Signalen
Erstellen Sie ein CustomDSO-Plug-In mit Visual Studio
Version: 1.0
DesignCon 2005 - Augenmuster in Zielfernrohren
DesignCon 2006 - Gruppenverzögerung und ihre Auswirkungen auf die serielle Datenübertragung und das Testen
DesignCon 2007: Ein Vergleich von Methoden zur Schätzung des Gesamt-Jitters in Bezug auf Präzision, Genauigkeit und Robustheit
DesignCon 2007: Fortgeschrittene Tools für serielle Hochgeschwindigkeitsdatenmessungen
DesignCon 2008: Validierungsmethoden für auf S-Parameter-Messungen basierende Modelle von differentiellen Übertragungsleitungen
DesignCon 2009 - Jitter-Transfer-Messung in Taktschaltungen
DesignCon 2009 - Quantifizierung von Crosstalk-Jitter
DesignCon 2009 - Signalintegritätsmessung in Systemen mit hoher Bitrate
Digitale Bandbreitenverschachtelung
Digitale Signalverarbeitung (DSP) in Oszilloskopen
ECOC - QPSK 56 GBaud Test mit LeCroy 830Zi
Jitter-Messungen in seriellen Datensignalen
Version: 1.0
OFC Post Deadline – Testen der 224-Gb/s-Übertragung über 1200 km mit LeCroy 830Zi
Ansprechverhalten des Oszilloskops
Random Interleaved Sampling (RIS)
Version: 1.0
Empfängertoleranztest mit Crosstalk-Aggressoren
Technologien für Echtzeit-Oszilloskope mit sehr hoher Bandbreite
Der Interleaving-Prozess in Digital Bandwidth Interleaving (DBI)-Umfängen
Die Beziehung zwischen der Varianz von Zeitmessungen und der Autokorrelationsfunktion
Version: 1.0
Timing-Messungsprobleme und Lösungen in quellenterminierten Speichersystemen mit unzugänglichen Prüfpunkten
Totalverlust: So qualifizieren Sie Leiterplatten
Einheitliche Methodik für 3D-EM/Kanalsimulation/Robuste Jitter-Zerlegung
Verwendung eines digitalen Oszilloskops zur Signalanalyse einschließlich eines praktischen Beispiels zur PLL-Charakterisierung
Wavelet-Denoising zur Verbesserung des TDR-Dynamikbereichs
X Stream II