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Teledyne LeCroy entwickelt das genaueste Messsystem für GaN- und SiC-Halbleiteranalysen

Neue 1-GHz-Tastköpfe, 12-Bit-High-Definition-Oszilloskope und Testsoftware sorgen zusammen für ultimative Genauigkeit beim Testen von Halbleitern mit großer Bandlücke

Chestnut Ridge, NY, 12. April 2022 – Teledyne LeCroy gab heute die Markteinführung ihres neuen Optisch isolierter DL-ISO-Hochspannungstastkopf mit 1 GHz und Power-Device-Testsoftware, die in Kombination mit ihrer Hochauflösende Oszilloskope (HDO®) bieten die genaueste elektrische Charakterisierung von Leistungshalbleitern aus Galliumnitrid (GaN) und Siliziumkarbid (SiC).

Seit mehr als dreißig Jahren verwenden Ingenieure Silizium (Si)-Metalloxid-Halbleiter-Feldeffekttransistoren (MOSFET) und Leistungshalbleiter mit isoliertem Gate-Transistor (IGBT), um Stromversorgungen und Leistungsumwandlungssysteme herzustellen. Verbraucher fordern jedoch kleinere und leichtere Netzteile und Systeme, und Regierungen schreiben höhere Wirkungsgrade vor. Materialien mit breiter Bandlücke (WBG) wie GaN und SiC schalten mehr als zehnmal schneller als Si in Halbleiterbauelementen und reduzieren Größe und Gewicht bei gleichzeitiger Erhöhung der Effizienz. Viele Ingenieure implementieren jedoch zum ersten Mal WBG-Halbleiter und benötigen eine größere Messbandbreite sowie eine genauere und detailliertere Analyse der Halbleiterbauelemente.

Die neue optisch isolierte Hochspannungssonde DL-ISO von Teledyne LeCroy bietet Entwicklungsingenieuren höchst zuverlässige Messungen von GaN- und SiC-Leistungshalbleitergeräten. Der neue Tastkopf hat die beste Signaltreue, das niedrigste Überschwingen und die beste Genauigkeit – 1.5 % in Kombination mit den branchenführenden HDOs mit 12-Bit-Auflösung von Teledyne LeCroy, fast doppelt so gut wie der einzige Wettbewerber. Die Bandbreite von 1 GHz erfüllt die Anforderungen zur Messung von Anstiegszeiten von 1 ns bei GaN-Geräten. HDOs bieten außerdem eine Abtastrate von bis zu 20 GS/s bei 12-Bit-Auflösung für die originalgetreue Erfassung und Anzeige von Hochgeschwindigkeitssignalen von GaN- und SiC-Geräten. Diese Kombination aus bester Signaltreue, geringem Überschwingen, hoher Genauigkeit, hoher Bandbreite und hoher Abtastrate ist von entscheidender Bedeutung für die erfolgreiche Implementierung von GaN- und SiC-Technologien in neuen Designs. Das neue Power-Device-Softwarepaket von Teledyne LeCroy vereinfacht zusätzlich die Analyse von GaN- und SiC-Bauelementen mit automatisiertem JEDEC® Schaltverlust und andere Messungen sowie farbcodierte Überlagerungen zur Hervorhebung der relevanten gemessenen Bereiche.

Preis und Verfügbarkeit

Die DL-ISO Tastköpfe werden in Bandbreiten von 350 MHz, 700 MHz und 1 GHz angeboten. Die Verfügbarkeit der Sonden- und Power-Device-Software beträgt 14 Wochen ARO. Für weitere Informationen besuchen Sie teledynelecroy.com/powerprobes.

Kompatible HDOs von Teledyne LeCroy haben eine Bandbreite von 350 MHz bis 8 GHz, mit einer durchgehenden 12-Bit-Auflösung und einer Abtastrate von bis zu 20 GS/s. Weitere Informationen finden Sie unter teledynelecroy.com/hdo oder kontaktieren Sie Teledyne LeCroy unter 1-800-553-2769.

Über Teledyne LeCroy

Teledyne LeCroy ist ein führender Hersteller von fortschrittlichen Oszilloskopen, Protokollanalysatoren und anderen Testinstrumenten, die die Leistung überprüfen, die Konformität validieren und komplexe elektronische Systeme schnell und gründlich debuggen. Seit seiner Gründung im Jahr 1964 hat sich das Unternehmen darauf konzentriert, leistungsstarke Tools in innovative Produkte zu integrieren, die "Time-to-Insight" verbessern. Eine kürzere Time-to-Insight ermöglicht es Benutzern, Fehler in komplexen elektronischen Systemen schnell zu finden und zu beheben, was die Time-to-Market für eine Vielzahl von Anwendungen und Endmärkten erheblich verkürzt. Teledyne LeCroy hat seinen Sitz in Chestnut Ridge, NY. Weitere Informationen finden Sie auf der Website von Teledyne LeCroy unter teledynelecroy.com.

 

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