Der Z1608 Edun ist einer der weltweit ersten Ethernet-Traffic-Generatoren, der sowohl 112G- als auch 224G-PAM4-SerDes testen kann.
Ausgestattet mit einer Hochgeschwindigkeitsschnittstelle OSFP-1600 kann der Z1608 sowohl mit optischen Transceivern als auch mit aktiven und passiven Kabeln verwendet werden.
Der Z1608 Edun ist eine 1U-Gehäuselösung und damit der kompakteste 112G- und 224G-Tester auf dem Markt. Er ist leise und leicht genug für den Einsatz auf dem Desktop.
Mehrere Chassis lassen sich für Multiport-Setups in Reihe schalten, was eine optimale PPM-Steuerung und Latenzmessung ermöglicht. Die Chassis-Konfiguration wird nahtlos mit XM3 und XOA verwaltet.
Der Z1608 Edun eignet sich zum Testen von Chips der nächsten Generation, Ethernet-Switches, Routern, Netzwerkkarten, Transceivern und Kabeln und hilft Entwicklern, die Signalintegrität und die Bitfehlerrate (BER) zu optimieren.
Der Z1608 Edun bietet dieselbe Benutzeroberfläche und dieselben Funktionen wie die bestehenden Xena-Lösungen (z. B. Z800 Freya) und zeichnet sich durch eine umfangreiche Liste wertvoller Funktionen für fortgeschrittene Layer-1- und Layer-2-Tests aus. Die Funktionen für die physikalische Schicht 1 umfassen Einblicke in fortgeschrittene PCS- und PMA-Layer-Tests, einschließlich dynamischer Transceiver-Taktmessung, Lane-Skewing sowie PRBS-Mustergenerierung und -Statistik.
Z1608 Edun bietet zudem eine erweiterte Signalintegritätsansicht (SIV) zur visuellen Darstellung der Signalqualität. Die Layer-1-Funktionen lassen sich mit einem optimierten Verkehrsgenerator kombinieren, der erweiterte Multistream-Unterstützung und Funktionen wie Latenz- und Jitterstatistiken, Modifikatoren, benutzerdefinierte Datenfelder und vieles mehr bietet.