Serielle Daten

LPDDR2

Die Teledyne LeCroy QPHY-LPDDR2-Testlösung ist der beste Weg, um LPDDR2-Speicherschnittstellen zu charakterisieren. QPHY-LPDDR466 kann Messungen auf 533 MHz, 667 MHz, 800 MHz, 900 MHz, 1066 MHz, 2 MHz und benutzerdefinierten Geschwindigkeitsstufen durchführen und verfügt über eine vollständige Suite von Takt-, elektrischen und Timing-Tests gemäß den JEDEC-Spezifikationen.

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DDR-Debug-Toolkit Das DDR Debug Toolkit wurde entwickelt, um die DDR-Entwurfsarbeit in den frühen Einschalt-, Validierungs- und Pre-Compliance-Phasen zu beschleunigen, während sich Benutzer auf Compliance-Tests vorbereiten. Integriert in die MAUI-Scope-App können Benutzer Fall-für-Fall-Szenarien mit mehreren Analysebereichen erstellen, Dekodierung und Triggerung auf dem Befehlsbus durchführen und mit JEDEC-spezifischen Augendiagrammen, Maskentests und DDR-spezifischen Messungen in die Optimierungsphasen des Entwurfs eintauchen.

QPHY-LPDDR2 Die Teledyne LeCroy QPHY-LPDDR2-Testlösung ist der beste Weg, um LPDDR2-Speicherschnittstellen zu charakterisieren. QPHY-LPDDR466 kann Messungen auf 533 MHz, 667 MHz, 800 MHz, 900 MHz, 1066 MHz, 2 MHz und benutzerdefinierten Geschwindigkeitsstufen durchführen und verfügt über eine vollständige Suite von Takt-, elektrischen und Timing-Tests gemäß den JEDEC-Spezifikationen.

Unterstützung für das Testen von LPDDR466-Signalen mit 533 MHz, 667 MHz, 800 MHz, 933 MHz, 1066 MHz, 2 MHz und benutzerdefinierten Geschwindigkeitsstufen

Der schnellste Weg, um Vertrauen in Ihre LPDDR2-Schnittstelle zu gewinnen, indem Sie eine große Anzahl von Zyklen messen und statistische Ergebnisse melden

Vollständig kommentierter Screenshot der Worst-Case-Messung, der im Bericht erfasst und angezeigt wird, einschließlich Trace-Labels und zugehöriger Spannungspegel

Die Funktion „Stopp bei Test/Fehler“ ermöglicht es dem Benutzer, bei einem bestimmten Test anzuhalten und die Messung auf der Oszilloskopanzeige zu überprüfen

Vollständige Testabdeckung für Tests wie in der JEDEC-Spezifikation JESD209-2B beschrieben.