Hochgeschwindigkeits-Serielldaten-Augendiagramm, Jitter- und Rauschanalyse

TechnologieanalyseTechnologieanalyse
PCIe, USB, DisplayPortPCIe, USB, DisplayPort
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RessourcenRessourcen
SDA Expert Augendiagramm zur seriellen Datenanalyse, Jitter-Histogramm, Jitter-Spektrum und Jitter-Aufschlüsselung in Gesamt-Jitter, zufälligen und deterministischen Jitter

Das geballte Know-how für die Analyse Serieller Daten

Die serielle Datenanalysesoftware SDA Expert ist das erste Paket zur Augendiagramm- und Jitteranalyse mit integriertem Technologie-Know-how. Sie vereinfacht die Einrichtung und erweitert die Debugging-Möglichkeiten durch maßgeschneiderte Technologieanalysen für PCI Express, USB, DisplayPort und mehr.

  • Maßgeschneiderte Technologieanalyse für PCI Express®, USB, Thunderbolt™, DisplayPort®, und mehr
  • Die umfassendste Toolbox zur seriellen Datenanalyse
  • Höchste Messsicherheit bei komplexen Signalanalysen

Das geballte Know-how für die Analyse Serieller Daten

Die erste Software für serielle Datenverarbeitung mit integriertem Fachwissen. Vereinfacht die Einrichtung und erweitert die Debugging-Möglichkeiten durch ein neues Technologie-Framework.

SDA Expert Software zur seriellen Datenanalyse, die zwei Augendiagramme vergleicht USB4 und USB4 spezifische Jitter-Messungen an einer USB-Typ-C-Schnittstelle

Maßgeschneiderte Technologieanalyse für PCI Express, USB, DisplayPort und mehr

  • Mit eingebautem Technologiespezifischem Expertenwissen
  • Nahtloser Übergang von Compliance Messungen zur Fehlersuche
  • Intuitive Einstellung der Messungen spart Zeit und vermeidet Fehler
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SDA Expert serielle Datenanalyse, NRZ-Augendiagramm, Jitter-Histogramm, Jitter-Track, Jitter-FFT sowie zufällige, deterministische und Gesamt-Jitter-Messungen

Die umfassendste Toolbox zur seriellen Datenanalyse

  • Die Werkzeugpalette der 4. Generation deckt alle Anforderungen für NRZ- und PAM-Signale ab.
  • Integriert alles – Jitter, Rauschen, Übersprechen, Entzerrung und Impulsantwort
  • Einzigartige Multi-View-Unterstützung mit Referenz- und Vergleichsmodi
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Serielle Datenanalyse von SDA Expert zum Vergleich von Vier-Augen-Diagramm- und Jitter-Szenarien mit De-Embedding eines Kanals und Verwendung von CTLE-, DFE- und FFE-Equalizer

Höchste Sicherheit bei komplexen Messungen

  • Das Ein-Knopf Setup spart Zeit bei der Einrichtung und vermeidet Fehler
  • Die Auswahl geeigneter Technologien vereinfacht die Einrichtung komplexer Messungen.
  • Ergebnisse schnell dokumentieren und Daten mit dem integrierten Berichtsgenerator speichern
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Maßgeschneiderte Technologieanalyse für PCI Express, USB, DisplayPort und mehr

Das SDA Expert Technologie-Framework bietet Ihnen alle spezifischen Tools für jede Technologie, um das Debuggen außerhalb von Konformitätstests einfach und schnell durchzuführen.

Die serielle Datenanalysesoftware SDA Expert zeigt ein Beispiel eines Technologie-Frameworks für PCIe Gen6
Die in SDA Expert integrierten dedizierten Debug- und Messfunktionen werden für USB im Technologieauswahlmenü angezeigt
SDA Expert verfügt über eine integrierte Auswahl an Testpunkten für Standards wie USB3.2, USB4, Thunderbolt, PCIe und DisplayPort für eine einfache Linkanalyse
Die serielle Datenanalysesoftware SDA Expert zeigt ein Augendiagramm des PCIe Gen6-Signals zusammen mit PCIe Gen6-spezifischen Messparametern und einer Sprungantwort

Beschleunigen Sie die Fehlersuche mit dem SDA Expert-Technologie-Framework von Teledyne LeCroy. Erhalten Sie alle benötigten Analysefunktionen, die normalerweise nur in Konformitätspaketen enthalten sind.

  • Technologiebasiertes Design entworfen von Technologieexperten
  • Einfach einzurichten und sofort einsatzbereit
  • Optimiert für das Debuggen außerhalb von Compliance-Tests

Wählen Sie einfach die zu testende Technologie aus, und Ihnen werden technologiespezifische Messwerte angezeigt, die so bezeichnet sind, wie sie im Technologiestandarddokument beschrieben sind und die spezifischen Anforderungen des Standards erfüllen.

  • Vordefiniertes Technologie-Framework mit zusätzlichen Optionen vereinfacht die Messeinrichtung
  • Profitieren Sie von dem eingebauten Expertenwissen
  • Holen Sie sich alle Tools, die Sie für Ihre Anwendung benötigen

Mit SDA Expert bietet die serielle Datenanalyse alle notwendigen Werkzeuge, um die in den Normen definierten Testpunkte zu messen, selbst wenn diese Testpunkte und/oder der Kanal nicht direkt physisch vorhanden sind.

  • Dynamische grafische Visualisierung der Kanal- und Testpunkteinrichtung
  • Vordefinierte Testpunkte vereinfachen die Einrichtung und vermeiden Fehler
  • Eingebautes Embedding/De-Embedding und Equalizing

Viele Normen haben spezifische Messparameter und Analyseanforderungen. Mit SDA Expert Serial Data Analysis erhalten Sie all dies in einem für die Fehlersuche optimierten Tool.

  • Halten Sie die Vorgaben der Normen ein
  • Optimiert für das Debuggen
  • Einfache Auswahl der benötigten Messungen spart Zeit und vermeidet Fehler

Technologie-Framework für USB 3.2, USB4, ThunderboltPCI Express, DisplayPort, 50G/100G Ethernet

Teledyne LeCroy hat seine jahrzehntelange Erfahrung mit Industriestandards in die Software SDA Expert zur Analyse serieller Daten integriert. Erreichen Sie mit dem neuen Technologie-Framework die nächste Stufe.

SDA Expert Serial Data Analysis-Software wird angezeigt USB3.2. Augendiagramm, Jitter und Augendiagrammparameter, gemessen an einer USB-C-Schnittstelle
SDA Expert Serial Data Analysis-Software wird angezeigt USB4. Augendiagramm, Jitter und Augendiagrammparameter, gemessen an einer USB-C-Schnittstelle
SDA Expert Serial Data Analysis-Software mit DisplayPort. Augendiagramm, Jitter und Augendiagrammparameter, gemessen an einer USB-C-Schnittstelle
SDA Expert PCIe 6.0-Übergangshistogramm einschließlich Jitter-Aufschlüsselung wie Rj, udjdd, utj, dj und tj
50G Ethernet PAM4-Augendiagramm mit Intersymbolinterferenz (ISI)-Diagramm

Die in den DisplayPort CTS (Compliance Test Specifications) definierten, technologiespezifischen Messungen für die USB-C-Technologie sind in der SDA Expert Software per Knopfdruck abrufbar.

  • Leicht konfigurierbare Testpunkteinrichtung
  • Umfassendes Augendiagramm, Jitter und andere USB-C-PHY-Messungen
  • Einfache, leistungsstarke Analyse der Equalizerfunktion
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Spezifische Messungen der USB-C-Technologie sind im definiert USB4 und Thunderbolt Die CTS (Konformitätsprüfspezifikationen) sind in der SDA Expert Software per Knopfdruck abrufbar.

  • Leicht konfigurierbare Testpunkteinrichtung
  • Umfassendes Augendiagramm, Jitter und andere USB-C-PHY-Messungen
  • Einfache, leistungsstarke Analyse der Equalizerfunktion
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Die in den DisplayPort CTS (Compliance Test Specifications) definierten, technologiespezifischen Messungen für die USB-C-Technologie sind in der SDA Expert Software per Knopfdruck abrufbar.

  • Leicht konfigurierbare Testpunkteinrichtung
  • Umfassendes Augendiagramm, Jitter und andere USB-C-PHY-Messungen
  • Einfache, leistungsstarke Analyse der Equalizerfunktion
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PCI Express 6.0 führt PAM4-spezifische Jitter-Messmethoden ein und macht SDA Expert damit zum idealen Werkzeugkasten für die Charakterisierung von PCIe-Transmittern.

  • Die Zusammensetzung der Jittermessung lässt sich in die 48 Übergänge des 52-UI-Jittermessmusters, 12 Spannungspegelübergänge oder einen einzelnen aggregierten Satz von Jittermessungen unterteilen.
  • Übergangshistogramm für jeden der 48 Übergänge im 52-UI-Jitter-Messmuster
  • Jedes der 52 Messtabellenergebnisse ist seinem jeweiligen Übergangshistogramm zugeordnet.
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Grundlegende Charakterisierung von elektrischen 50G/100G-Ethernet-Signalen durchführen

  • Augendiagramme und -messungen, wie z. B. Augenhöhe und Augenbreite
  • Messungen der Senderentzerrung (TxEQ)
  • Jitter-Messungen mit Taktdaten-Rückgewinnung
  • Messungen des Signal-Rausch-Verhältnisses (SNDR) und des Pegelfehlanpassungsverhältnisses (RLM)
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Die umfassendste Toolbox zur seriellen Datenanalyse

Die SDA Expert Serial Data Analysis Optionen bieten Ihnen alle Werkzeuge, die Sie für die Messung von NRZ- oder PAM-Augendiagrammen, Jitter oder Rauschen bei seriellen Hochgeschwindigkeitsdaten benötigen.

SDA Expert NRZ-Augendiagramm, Jitter-Histogramm, Jitter-Track, Jitter-FFT und zufälliger, deterministischer Jitter zusammen mit Augendiagramm-Parametern
SDA Expert zeigt ein Augendiagramm des PAM4-Signals und misst SNDR, RLM zusammen mit Jitter und Augendiagrammparametern
SDA Expert Maskentestanzeige
SDA Expert zeigt Rauschen als Spurfunktion, Histogramm und im Frequenzbereich an und misst, extrapoliert und zerlegt vertikales Rauschen
De-Embedding von Vorrichtungen und Testkabeln von TP1 zu TP2 oder Emulation des Kanals bei TP3 mithilfe von S-Parametern und SDA Expert
SDA Expert vergleicht vier Szenarien mit Augendiagramm und Jitter, Einbettung und Enteinbettung eines Kanals und Verwendung von CTLE-, DFE- und FFE-Equalizern

Die SDA Expert Serial Data Software bietet umfassende Werkzeuge zur NRZ-Jitter-Zerlegung, Augendiagramm-Analyse und fortschrittlichen Signalintegritäts-Tools für Emulation, De-Embedding und Entzerrungssimulation.

  • Das Toolset der 4. Generation deckt den kompletten Bedarf an Analyzen von NRZ-Signalen ab
  • Integriert alles – Jitter, Rauschen, Übersprechen, Entzerrung und Impulsantwort
  • Umfassende Jitter-Analyse und Jitter-Breakdown Funktionen

Die Softwareoption SDA Expert Serial Data Analysis bietet umfassende PAM3- und PAM4-Augendiagramm-, Jitter- und Rauschmessungen zur Analyse von zufälligen, deterministischen und periodischen Störungen für jede Augenöffnung von mehrstufigen PAM-Signalen.

  • Vollständigste SNDR- und RLM-Analyse
  • Leistungsstarke Visualisierungswerkzeuge zur Identifizierung unerwarteter Rausch- und Verzerrungskomponenten
  • Umfassende Jitter-Analyse und Jitter-Breakdown Funktionen

Der Maskentest ist eines der benutzerfreundlichsten Werkzeuge zur Analyse der Signalintegrität von NRZ-Signalen. SDA Expert verfügt über eine umfangreiche, integrierte Datenbank mit Masken und zugehörigen PLL-Einstellungen, die flexibel um eigene Definitionen erweitert werden kann.

  • Mehr als 100 vordefinierte Standards mit Masken und PLL-Einstellungen
  • Einfache Erweiterung für individuelle Masken oder die Hinzufügung neuer Standards
  • Flexible PLL-Einstellungen als Frequenz-, JTF- oder OJTF-Definition

Mit der SDA Expert Serial Data Analysis Software erhalten Sie eine komplette Suite von Werkzeugen zur Messung von vertikalem Rauschen und zur Analyse von Übersprechen für eine vollständige Angreifer-/Opfer-Analyse.

  • Rauschverlauf, Histogramm und Spektrum liefern Einblicke in das vertikale Rauschen.
  • LaneScape-Vergleichsmodus zur Generierung von Crosstalk-Augen von mehreren Lanes
  • Ein innovatives Crosstalk-Augenkonturdiagramm zeigt die Auswirkungen von übermäßigem Rauschen.

Mit der SDA Expert Software zur seriellen Datenanalyse lässt sich der gesamte Signalweg vom Sender zum Empfänger schnell charakterisieren, hochauflösende Signalverläufe an einem geeigneten Testpunkt erfassen und das Signal anschließend an jedem beliebigen Punkt analysieren.

  • De-Embedding von Test Fixture und Kabel
  • Emulieren Sie reale Kanalverluste
  • Emulieren Sie den Equalizer im Sender- und Empfänger
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Die Software SDA Expert Serial Data Analysis bietet mehrere Ansichten und eine Referenzanalyse, mit denen Unterschiede schnell erkannt und die Fehlersuche beschleunigt werden kann.

  • Verwenden Sie den Referenzspeicher (Ref. Lane) für Multi-Szenario-Tests
  • Messen Sie mehrere Lanes gleichzeitig
  • Anaylsieren und vergeleichen Sie mehrer Messpunkte oder Konfigurationen

Höchste Sicherheit für komplexe Messungen

Die serielle Datenanalyse von SDA Expert bietet höchste Zuverlässigkeit bei gleichzeitig optimierter Einfachheit und Benutzerfreundlichkeit.

Konfigurieren Sie die SDA Expert Serial Data Analysis-Software mit De-Embedding und Equalizing mit nur einer Taste, anstatt einen komplexen Assistenten zu verwenden
SDA Expert verfügt über integrierte dedizierte Debug- und Messfunktionen, die einfach über das Technologieauswahlmenü aufgerufen werden können
Die SDA Expert Serial Data Analysis-Software verfügt über eine integrierte Berichtsfunktion zum Speichern von Setup, Rohdaten und Berichten für alle Arten von Jitter- und seriellen Datenanalysen für NRZ- und PAM-Signale auf Knopfdruck
SDA Expert Serial Data Analysis-Software mit optimierter grafischer Benutzeroberfläche

Vertrauen Sie auf die Expertise der SDA Expert Serial Data Analysis Software und nutzen Sie die Ein-Knopf-Bedienung anstatt sich mit Assistenten herumzuschlagen.

  • Ein-Knopf-Setup statt komplexer Wizzard
  • Optimiert, um Zeit bei der Einstellung einzusparen
  • Zeigen Sie die relevantesten Jitter-Ansichten und Augendiagramme an

Profitieren Sie vom Expertenwissen der SDA Expert Serial Data Analysis Software und starten Sie Ihre Analyse mit nur wenigen Klicks.

  • Das vordefinierte Technologie-Framework vereinfacht die Einrichtung
  • Profitieren Sie von dem eingebauten Expertenwissen
  • Holen Sie sich alle Tools, die Sie für Ihre Anwendung benötigen

Mit der Berichtsfunktion der SDA Expert Serial Data Analysis Software können Sie Ihre Daten für zukünftige Analysen speichern und auf Knopfdruck umfassende Berichte erstellen.

  • Daten speichern, einrichten und gleichzeitig einen Bericht erstellen
  • Die gespeicherten Daten wurden später im Rahmen des Projekts oder offline mit MAUI Studio analysiert.
  • Erstellen Sie einen Bericht, der alle relevanten Einstellungen sowie einen aussagekräftigen Screenshot enthält.

Behalten Sie den Überblick über Ihre Einstellungen und sparen Sie Zeit mit der optimierten, übersichtlichen Benutzeroberfläche mit selbsterklärenden Symbolen. Die Statusanzeige informiert Sie über fehlende oder fehlerhafte Einstellungen.

  • Symbole erleichtern das Auffinden der benötigten Funktion
  • Die optimierte grafische Benutzeroberfläche hilft bei der Reihenfolge der Einstellungen
  • Statusleisten geben Auskunft über fehlende oder fehlerhafte Einstellungen

Vergleich von Augendiagrammen und Jitteranalysen für serielle Daten – Teledyne LeCroy, Keysight, Tektronix

Teledyne LeCroy SDA Expert bietet einzigartige, technologiespezifische Funktionen und ist intuitiv und benutzerfreundlich. Im Vergleich dazu erfordern die Softwarelösungen von Keysight und Tektronix für Augendiagramm- und Jitteranalyse serieller Daten den Kauf mehrerer Optionen, um den gleichen Funktionsumfang wie SDAX-COMPLETE zu erreichen.

NRZ

Augendiagramm und Eye Messparameter
Jitter, Track, Histogramm und Spektrum
Impulsantwort und Tx-EQ

PAMn

Augendiagramm und Eye Messparameter
Jitter-Messung, Verfolgung, Histogramm
Impulsantwort, Tx-EQ und SNDR

Noise/Crosstalk

Noise, Track, Histogramm und Spektrum
Crosstalk-Augendiagramm-Overlay

Embedding / De-Embedding

Embedding / De-Embedding
Equalizing

Ansehen

Multi-view
Referenz View

Produktivität

Grafische Benutzeroberfläche
Report Generator
Automatisches Testpunkt Setup

Technologiespezifische Lösungen

PCIe 2.0
PCIe 3.0
PCIe 4.0
PCIe 5.0
PCIe 6.0
USB 3.2
USB und Thunderbolt
DisplayPort 1.4
DisplayPort 2.0
Teledyne LeCroy
SDAX-COMPLETE
(SDAX-PCIE-NRZ)
(SDAX-PCIE-NRZ)
(SDAX-PCIE-NRZ)
(SDAX-PCIE-NRZ)
(SDAX-PCIE6)
(SDAX-USB32)
(SDAX-USB4-TBT)
(SDAX-DP)
(SDAX-DP)
Keysight
Mehrere Optionen erforderlich
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Tektronix
Mehrere Optionen erforderlich
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(PAMPCIE6)
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Ressourcen

Dokumentname Dokumenttyp  
SDA-Expert Datenblatt

Datenblatt

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SDA Expert Software-Bedienungsanleitung PDF herunterladen

Handbuch

PDF herunterladen
Konfiguration des SSCTrack-Operators für die Spread-Spectrum-Taktdemodulation von seriellen Daten

Diese Anwendungsbeschreibung erläutert, wie die Einstellungen des mathematischen Operators SSCTrack konfiguriert werden, um eine Spread-Spectrum-Taktdemodulation von seriellen Datensignalformen durchzuführen.

App-Hinweis

PDF herunterladen

Webinar-Reihe der Jitter University

Verwirrt vom Thema Jitter? Hat eine Erklärung zu Jitter mehr Fragen als Antworten aufgeworfen? Dann lernen Sie bei Teledyne LeCroy alles über Jitter – was Jitter ist, verschiedene Kategorien, verwendete Instrumente, Messungen und Betrachtungsweisen, Dekonvolution und Extrapolation und vieles mehr.

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Teil 1 – Einführung in Jitter

In dieser Sitzung stellen wir grundlegende Definitionen und Kategorien von Jitter vor, beschreiben die Arten von Instrumenten, die historisch und aktuell zur Messung von Jitter verwendet werden, und gehen auf die Stärken und Schwächen von Jitter-Messinstrumenten ein.

Teil 2 – Was Nervosität am Spielfeldrand ausmacht

In dieser Sitzung veranschaulichen wir Beispiele für die Jittermessung anhand von Aufnahmen mit einer oder zwei Flanken. Verschiedene Messtechniken werden mit ihren historischen Vorläufern beschrieben. Auch der Einfluss des Messgeräts auf die Genauigkeit der Jittermessung wird erörtert.

Teil 3 – Jitter aus einer langfristigen Perspektive betrachten

In dieser Sitzung nutzen wir moderne digitale Oszilloskope, um Jitter-Messungen schneller und genauer durchzuführen. Wir berechnen außerdem Statistiken, betrachten Histogramme von Datensätzen und untersuchen, wie sich Jitter mit der Zeit oder der Frequenz verändert, um zugrunde liegende Jitter-Pathologien besser zu verstehen.

Teil 4 – Praktische Beispiele zur Jitter-Fehlerbehebung und -Messung

In dieser Sitzung stellen wir die Spektralanalyse von Jitter als Debugging-Werkzeug vor und geben weitere praktische Beispiele für die Verwendung statistischer und zeitbereichsanalytischer Werkzeuge auf dem Oszilloskop, um die Ursache von Jitterproblemen aufzudecken.

Teil 5 – Grundlagen der Jitter-Messung bei seriellen Daten

In dieser Sitzung stellen wir grundlegende Definitionen und Kategorien von Jitter vor, beschreiben die Arten von Instrumenten, die historisch und aktuell zur Messung von Jitter verwendet werden, und gehen auf die Stärken und Schwächen von Jitter-Messinstrumenten ein.

Teil 6 – Jitter-Trennung, Extrapolation und Jitter-Ansichten bei seriellen Daten

In dieser Sitzung beschreiben wir, was der Gesamtjitter bei einer gegebenen Bitfehlerrate (Tj@BER) ist und wie er aus Zeitintervallfehlermessungen (TIE) mithilfe von Extrapolationsmodellen abgeleitet wird. Wir erklären die Unterscheidung zwischen zufälligem Jitter (Rj) und deterministischem Jitter (Dj) und erläutern die Aufteilung von Dj in datenabhängigen Jitter (DDj), Tastverhältnisverzerrung (DCD), Intersymbolinterferenz (ISI), begrenzten unkorrelierten Jitter (BUj) und periodischen Jitter (Pj) anhand von Beispielen.

Teil 7 – Fortgeschrittenenkurs zu Jitter-Messungen bei seriellen Daten

In dieser Sitzung gehen wir näher auf die verschiedenen gemessenen und extrapolierten Jitter-Ansichten ein und erläutern statistische und zeitlich variable Jitter-Ansichten in seriellen Datenverbindungsmargen, wie sie in einem Augendiagramm dargestellt werden.

Wie man serielle Datenverbindungen mithilfe von Oszilloskopen ausbettet und emuliert

Nehmen Sie an der Teledyne LeCroy-Schulung teil und erfahren Sie mehr über verschiedene De-Embedding- und Embedding-/Emulationsverfahren für serielle Hochgeschwindigkeits-Datenverbindungen, -Kanäle und -Tastköpfe. Wir besprechen die gängigen Werkzeuge für Hochbandbreiten-Oszilloskope, wie De-Embedding und Emulation, anhand von S-Parameter-Messdateien oder Schaltungsmodellen.

Wie man Verbindungselemente sowohl im Frequenz- als auch im Zeitbereich de-embeddet

Nehmen Sie an der Veranstaltung von Teledyne LeCroy teil, in der wir bewährte Verfahren zum Ausblenden von Testvorrichtungen, Kabeln und Sonden aus seriellen Datenverbindungen und anderen Signalintegritätsmessungen vorstellen und demonstrieren. Dieser Prozess ist von entscheidender Bedeutung, um sicherzustellen, dass die Signalintegritätsmessungen für das Prüfobjekt nicht durch die Verbindungselemente verfälscht werden.

Signalintegrität bei seriellen Hochgeschwindigkeitsdaten, Jitteranalyse, Sondendeinbettung

In diesem Webinar erklären wir, wie man bei seriellen Hochgeschwindigkeitsdaten die Signalintegrität, Entzerrung, Jitter-Messungen, Einbettung und Entbettung von Verbindungen und Sonden debuggt.

Hochgeschwindigkeits-Serielldaten-Debugging und -Analyse

In diesem Seminar erklären wir, wie man bei seriellen Hochgeschwindigkeitsdaten die Signalintegrität, Entzerrung, Jitter-Messungen, Einbettung und Entbettung von Verbindungen und Sonden debuggt.

Wie man Tests und Fehlersuche bei seriellen Datenübertragungssystemen mit 16+ Gbit/s beschleunigt und verbessert

Dieses Webinar bietet einen Überblick über einen typischen Test eines seriellen Hochgeschwindigkeits-Datensenders. USB4 Als Beispiel: Wir synthetisieren ein serielles Hochgeschwindigkeits-Datensignal, analysieren es mit einem Echtzeit-Oszilloskop an einem virtuellen Empfänger und vergleichen das virtuell empfangene Signal mit einem realen Signal. Wir betrachten die Analyse der Signalintegritätsmarge sowie Jitter-, Augendiagramm-, IsoBER-Kontur- und Übersprechmessungen.

Webinar: Grundlagen der Charakterisierung von seriellen Hochgeschwindigkeits-Datenverbindungen

Nehmen Sie an der Teledyne LeCroy-Schulung teil und erfahren Sie mehr über die Auswirkungen von seriellen Hochgeschwindigkeits-Datenverbindungen auf Ihre Schaltungsentwicklung. Wir behandeln S-Parameter und Impedanzprofile sowie deren Interpretation und nutzen anschließend S-Parameter-Dateien, um Augendiagramm- und Jittermessungen an einem Differenzsignal durchzuführen, das einen Beispielkanal durchläuft.

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