Hochgeschwindigkeits-Serielldaten-Augendiagramm, Jitter- und Rauschanalyse

TechnologieanalyseTechnologieanalyse
PCIe, USB, DisplayPortPCIe, USB, DisplayPort
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RessourcenRessourcen
SDA Expert Augendiagramm zur seriellen Datenanalyse, Jitter-Histogramm, Jitter-Spektrum und Jitter-Aufschlüsselung in Gesamt-Jitter, zufälligen und deterministischen Jitter

Das geballte Know-how für die Analyse Serieller Daten

Die erste Analyse-Software für Serielle Daten mit integriertem Experten Wissen. Die serielle Datenanalysesoftware SDA Expert ist das erste Augendiagramm- und Jitter-Analyse Software Paket mit integriertem Experten Wissen. Es vereinfacht das Setup und erweitert die Debugging-Funktionen durch maßgeschneiderte Technologieanalysen für PCI Express, USB, DisplayPort und mehr.

  • Maßgeschneiderte Technologieanalyse für PCI Express, USB, Thunderbolt™, DisplayPort, und mehr
  • Die umfassendste Toolbox zur seriellen Datenanalyse
  • Höchste Messsicherheit bei komplexen Signalanalysen

Das geballte Know-how für die Analyse Serieller Daten

Erste serielle Datensoftware mit integriertem Fachwissen. Vereinfacht die Einrichtung und erweitert die Debugging-Funktionen durch ein neues Technologie-Framework.

SDA Expert Software zur seriellen Datenanalyse, die zwei Augendiagramme vergleicht USB4 und USB4 spezifische Jitter-Messungen an einer USB-Typ-C-Schnittstelle

Maßgeschneiderte Technologieanalyse für PCI Express, USB, DisplayPort und mehr

  • Mit eingebautem Technologiespezifischem Expertenwissen
  • Nahtloser Übergang von Compliance Messungen zur Fehlersuche
  • Intuitive Einstellung der Messungen spart Zeit und vermeidet Fehler
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SDA Expert serielle Datenanalyse, NRZ-Augendiagramm, Jitter-Histogramm, Jitter-Track, Jitter-FFT sowie zufällige, deterministische und Gesamt-Jitter-Messungen

Die umfassendste Toolbox zur seriellen Datenanalyse

  • Das Toolset der 4. Generation deckt alle Analysen an NRZ- und PAM-Signalen ab
  • Beinhaltet alle Analysen – Jitter, Noise, Crosstalk (Übersprechen), Equalization (Entzerrung) und Response (Impulsantwort)
  • Einzigartige Multi-View-Ansicht mit Referenz- und Vergleichsmodi
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Serielle Datenanalyse von SDA Expert zum Vergleich von Vier-Augen-Diagramm- und Jitter-Szenarien mit De-Embedding eines Kanals und Verwendung von CTLE-, DFE- und FFE-Equalizer

Höchste Sicherheit bei komplexen Messungen

  • Das Ein-Knopf Setup spart Zeit bei der Einrichtung und vermeidet Fehler
  • Die Auswahl von vordefinierten Technologien vereinfacht die Einrichtung komplexer Messungen
  • Speichern Sie Ihre Daten und dokumentieren Sie Ihre Ergebnisse mit Hilfe des integrierten Berichtsgenerator
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Maßgeschneiderte Technologieanalyse für PCI Express, USB, DisplayPort und mehr

Das SDA Expert-Technologie-Framework bietet alle Tools, die Sie für jede Technologie benötigen, um ein einfaches und schnelles Debugging außerhalb von Compliance-Tests zu ermöglichen.

Die serielle Datenanalysesoftware SDA Expert zeigt ein Beispiel eines Technologie-Frameworks für PCIe Gen6
Die in SDA Expert integrierten dedizierten Debug- und Messfunktionen werden für USB im Technologieauswahlmenü angezeigt
SDA Expert verfügt über eine integrierte Auswahl an Testpunkten für Standards wie USB3.2, USB4, Thunderbolt, PCIe und DisplayPort für eine einfache Linkanalyse
Die serielle Datenanalysesoftware SDA Expert zeigt ein Augendiagramm des PCIe Gen6-Signals zusammen mit PCIe Gen6-spezifischen Messparametern und einer Sprungantwort

Beschleunigen Sie das Debuggen mit dem SDA Expert-Technologie-Framework von Teledyne LeCroy. Erhalten Sie alle benötigten Debugging-Analysen, die normalerweise nur in Compliance-Paketen verfügbar sind.

  • Technologiebasiertes Design entworfen von Technologieexperten
  • Einfach einzurichten und sofort einsatzbereit
  • Optimiert für das Debuggen außerhalb von Compliance-Tests

Wählen Sie einfach die zu testende Technologie aus und Ihnen werden technologiespezifische Messungen angezeigt, die so gekennzeichnet sind, wie sie im jeweiligen Standard beschrieben sind und wie sie den spezifischen Anforderungen des Standards entsprechen.

  • Optionen mit vordefiniertem Technologie-Framework vereinfacht die Einrichtung der Messungen
  • Profitieren Sie von dem eingebauten Expertenwissen
  • Holen Sie sich alle Tools, die Sie für Ihre Anwendung benötigen

Mit der seriellen Datenanalyse von SDA Expert stehen Ihnen alle Werkzeuge zur Verfügung, die zum Messen der in den Standards definierten Testpunkte erforderlich sind, auch wenn diese Testpunkte und/oder der Kanal nicht direkt physisch vorhanden sind.

  • Dynamische grafische Visualisierung der Kanal- und Testpunkteinrichtung
  • Vordefinierte Testpunkte vereinfachen die Einrichtung und vermeiden Fehler
  • Eingebautes Embedding/De-Embedding und Equalizing

Viele Normen haben spezifische Messparameter und Analyseanforderungen. Mit SDA Expert Serial Data Analysis Software erhalten Sie alles was Sie benötigen in einem für das Debuggen optimierten Tool.

  • Halten Sie die Vorgaben der Normen ein
  • Optimiert für das Debuggen
  • Einfache Auswahl der benötigten Messungen spart Zeit und vermeidet Fehler

Technologie-Framework für USB 3.2, USB4, Thunderbolt, PCI Express, DisplayPort

Teledyne LeCroy hat seine jahrzehntelange Erfahrung mit Technologiestandards in die serielle Datenanalysesoftware SDA Expert integriert. Bringen Sie Ihre Möglichkeiten auf den nächsten Level mit dem neuen Technologie-Framework.

SDA Expert Serial Data Analysis-Software wird angezeigt USB3.2. Augendiagramm, Jitter und Augendiagrammparameter, gemessen an einer USB-C-Schnittstelle
SDA Expert Serial Data Analysis-Software wird angezeigt USB4. Augendiagramm, Jitter und Augendiagrammparameter, gemessen an einer USB-C-Schnittstelle
SDA Expert Serial Data Analysis-Software mit DisplayPort. Augendiagramm, Jitter und Augendiagrammparameter, gemessen an einer USB-C-Schnittstelle
SDA Expert PCIe 6.0-Übergangshistogramm einschließlich Jitter-Aufschlüsselung wie Rj, udjdd, utj, dj und tj

Spezifische Messungen der USB-C-Technologie, die im DisplayPort CTS (Compliance Test Specification) definiert sind, sind in der SDA Expert-Software per Knopfdruck verfügbar.

  • Leicht konfigurierbare Testpunkteinrichtung
  • Umfassendes Augendiagramm, Jitter und andere USB-C-PHY-Messungen
  • Einfache, leistungsstarke Analyse der Equalizerfunktion
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Spezifische Messungen der USB-C-Technologie sind im USB4 und Thunderbolt CTS (Compliance Test Specification) definiert und in der SDA Expert-Software per Knopfdruck verfügbar.

  • Leicht konfigurierbare Testpunkteinrichtung
  • Umfassendes Augendiagramm, Jitter und andere USB-C-PHY-Messungen
  • Einfache, leistungsstarke Analyse der Equalizerfunktion
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Spezifische Messungen der USB-C-Technologie, die im DisplayPort CTS (Compliance Test Specification) definiert sind, sind in der SDA Expert-Software per Knopfdruck verfügbar.

  • Leicht konfigurierbare Testpunkteinrichtung
  • Umfassendes Augendiagramm, Jitter und andere USB-C-PHY-Messungen
  • Einfache, leistungsstarke Analyse der Equalizerfunktion
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PCI Express 6.0 führt PAM4-spezifische Jitter-Messmethoden ein. Durch die PCI Express spezifischen Messungen ist SDA Expert das idealen Toolkit für die Charakterisierung von PCIe Transmittern.

  • Teilen Sie die Jitter-Messungen auf in 48 Übergänge im 52-UI-Jitter-Testpattern, 12 Signalübergänge, oder fassen Sie alle in einen einzelnen Datensatz von Jitter-Messungen zusammen
  • Übergangshistogramm für jeden der 48 Übergänge im 52-UI-Jitter-Testpattern
  • Jedes der 52 Messergebnisse ist mit dem jeweiligen Signalübergang verknüpft
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Die umfassendste Toolbox zur seriellen Datenanalyse

Die Optionen für die serielle Datenanalyse von SDA Expert bieten alle Tools, die Sie für die Messung von Highspeed-NRZ- oder PAM-Augendiagrammen, der Jitteranalyse oder der Analyse des Rauschens von seriellen Datensignalen benötigen.

SDA Expert NRZ-Augendiagramm, Jitter-Histogramm, Jitter-Track, Jitter-FFT und zufälliger, deterministischer Jitter zusammen mit Augendiagramm-Parametern
SDA Expert zeigt ein Augendiagramm des PAM4-Signals und misst SNDR, RLM zusammen mit Jitter und Augendiagrammparametern
SDA Expert zeigt Rauschen als Spurfunktion, Histogramm und im Frequenzbereich an und misst, extrapoliert und zerlegt vertikales Rauschen
De-Embedding von Vorrichtungen und Testkabeln von TP1 zu TP2 oder Emulation des Kanals bei TP3 mithilfe von S-Parametern und SDA Expert
SDA Expert vergleicht vier Szenarien mit Augendiagramm und Jitter, Einbettung und Enteinbettung eines Kanals und Verwendung von CTLE-, DFE- und FFE-Equalizern

SDA Expert Serial Data-Software bietet die umfassendste NRZ-Jitter-Breakdown-Analyse, Augendiagramm Analyse sowie viele weitere Signalintegritätsanalysen für Embedding, De-Embedding und Simulation von Equalizern

  • Das Toolset der 4. Generation deckt den kompletten Bedarf an Analyzen von NRZ-Signalen ab
  • Beinhaltet alle Analysen – Jitter, Noise, Crosstalk (Übersprechen), Equalization (Entzerrung) und Response (Impulsantwort)
  • Umfassende Jitter-Analyse und Jitter-Breakdown Funktionen

Die Softwareoption SDA Expert Serial Data Analysis bietet umfassende PAM3- und PAM4-Augendiagramm-, Jitter- und Noise-Messungen. Diese sind ideal zur Analyse zufälliger, deterministischer und periodischer Effekte und können getrennt für jede Augenöffnung von mehrstufigen PAM-Signalen analysiert werden

  • Vollständigste SNDR- und RLM-Analyse
  • Leistungsstarke Visualisierungstools zur Identifizierung unerwarteter Rausch- und Verzerrungskomponenten
  • Umfassende Jitter-Analyse und Jitter-Breakdown Funktionen

Mit der SDA Expert Serial Data Analysis-Software erhalten Sie eine vollständige Suite an Tools zur vertikalen Rauschmessung und Crosstalk-Analyse für eine vollständige Anaylse der Auswirkung und der Ursache

  • Noise-Track, Histogramm und Spektrum bieten Einblick in das vertikale Rauschen
  • LaneScape-Vergleichsmodus zur Generierung von Crosstalk-Augen von mehreren Lanes
  • Das innovative Crosstalk-Augenkonturdiagramm zeigt die Auswirkungen von übermäßigem Rauschen

Mit der Software SDA Expert Serial Data Analysis können Sie schnell den gesamten Signalpfad vom Sender zum Empfänger charakterisieren. Sie können Signale an einem geeigneten Testpunkt erfassen und das Signal dann einfach an jedem gewünschten Punkt analysieren

  • De-Embedding von Test Fixture und Kabel
  • Emulieren Sie reale Kanalverluste
  • Emulieren Sie den Equalizer im Sender- und Empfänger
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Mit Hilfe von mehreren Ansichten und der Referenzanalyse in der SDA Expert Serial Data Analysis-Software identifizieren Sie schnell Unterschiede und beschleunigen das Debuggen

  • Verwenden Sie den Referenzspeicher (Ref. Lane) für Multi-Szenario-Tests
  • Messen Sie mehrere Lanes gleichzeitig
  • Anaylsieren und vergeleichen Sie mehrer Messpunkte oder Konfigurationen

Höchste Sicherheit für komplexe Messungen

Die serielle Datenanalyse von SDA Expert bietet höchste Zuverlässigkeit und ist gleichzeitig auf Einfachheit und Benutzerfreundlichkeit ausgelegt.

Konfigurieren Sie die SDA Expert Serial Data Analysis-Software mit De-Embedding und Equalizing mit nur einer Taste, anstatt einen komplexen Assistenten zu verwenden
SDA Expert verfügt über integrierte dedizierte Debug- und Messfunktionen, die einfach über das Technologieauswahlmenü aufgerufen werden können
Die SDA Expert Serial Data Analysis-Software verfügt über eine integrierte Berichtsfunktion zum Speichern von Setup, Rohdaten und Berichten für alle Arten von Jitter- und seriellen Datenanalysen für NRZ- und PAM-Signale auf Knopfdruck
SDA Expert Serial Data Analysis-Software mit optimierter grafischer Benutzeroberfläche

Vertrauen Sie auf das Fachwissen der SDA Expert Serial Data Analysis-Software und nutzen Sie die Ein-Knopf-Bedienung, anstatt sich mit Wizzards herumzuschlagen

  • Ein-Knopf-Setup statt komplexer Wizzard
  • Optimiert, um Zeit bei der Einstellung einzusparen
  • Zeigen Sie die relevantesten Jitter-Ansichten und Augendiagramme an

Profitieren Sie vom Expertenwissen der SDA Expert Serial Data Analysis Software und starten Sie Ihre Analyse mit nur wenigen Klicks.

  • Das vordefinierte Technologie-Framework vereinfacht die Einrichtung
  • Profitieren Sie von dem eingebauten Expertenwissen
  • Holen Sie sich alle Tools, die Sie für Ihre Anwendung benötigen

Mit der Berichtsfunktion der SDA Expert Serial Data Analysis-Software können Sie Ihre Daten für zukünftige Analysen speichern und auf Knopfdruck umfassende Berichte erstellen.

  • Daten speichern, einrichten und gleichzeitig einen Bericht erstellen
  • Analysieren Sie die gespeicherten Daten später im Oszilloskop oder offline mit MAUI Studio
  • Erstellen Sie einen Bericht mit allen relevanten Einstellungen sowie einem aussagekräftigen Screenshot.

Behalten Sie den Überblick über die Einstellungen und sparen Sie Zeit mit der optimierten, grafischen Benutzeroberfläche (UI) mit selbsterklärenden Symbolen. Erhalten Sie hilfreiche Informationen über fehlende oder fehlerhafte Einstellungen durch die Statusinformationen.

  • Symbole erleichtern das Auffinden der benötigten Funktion
  • Die optimierte grafische Benutzeroberfläche hilft bei der Reihenfolge der Einstellungen
  • Statusleisten geben Auskunft über fehlende oder fehlerhafte Einstellungen

Vergleich zwischen seriellem Daten-Augendiagramm und Jitter-Analyse – Teledyne LeCroy, Keysight, Tektronix

Teledyne LeCroy SDA Expert verfügt über einzigartige technologiespezifische Funktionen und ist intuitiv und einfach zu bedienen. Vergleichen Sie die Softwareoptionen für serielle Daten-Augendiagramme und Jitter-Analysen von Keysight und Tektronix, für die der Kauf mehrerer Optionen erforderlich ist, um die gleiche Funktionalität wie SDAX-COMPLETE zu erhalten.

NRZ

Augendiagramm und Eye Messparameter
Jitter, Track, Histogramm und Spektrum
Impulsantwort und Tx-EQ

PAMn

Augendiagramm und Eye Messparameter
Jitter-Messung, Verfolgung, Histogramm
Impulsantwort, Tx-EQ und SNDR

Noise/Crosstalk

Noise, Track, Histogramm und Spektrum
Crosstalk-Augendiagramm-Overlay

Embedding / De-Embedding

Embedding / De-Embedding
Equalizing

Anzeigen

Multi-view
Referenz View

Produktivität

Grafische Benutzeroberfläche
Report Generator
Automatisches Testpunkt Setup

Technologiespezifische Lösungen

PCIe 2.0
PCIe 3.0
PCIe 4.0
PCIe 5.0
PCIe 6.0
USB 3.2
USB und Thunderbolt
DisplayPort 1.4
DisplayPort 2.0
Teledyne LeCroy
SDAX-COMPLETE
(SDAX-NRZ)
(SDAX-NRZ)
(SDAX-NRZ)
(SDAX-NRZ)
(SDAX-PCIE6)
(SDAX-USB32)
(SDAX-USB4-TBT)
(SDAX-DP)
(SDAX-DP)
Keysight
Mehrere Optionen erforderlich
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Tektronix
Mehrere Optionen erforderlich
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(PAMPCIE6)
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Ressourcen

Dokumentname Dokumenttyp  
SDA-Expert Datenblatt

Datenblätter

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SDA Expert Software-Bedienungsanleitung PDF Downloaden

Manuell

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Webinar-Reihe der Jitter University

Verwirrt wegen Jitter? Hat jemandes Erklärung des Jitters mehr Fragen als Antworten hervorgerufen? Wenn ja, nehmen Sie an Teledyne LeCroy teil und erfahren Sie alles über Jitter – was Jitter ist, verschiedene Kategorien, verwendete Instrumente, Messungen und Ansichten, Entfaltung und Extrapolation und mehr.

Registrieren Sie sich für alle
Teil 1 – Einführung in Jitter

In dieser Sitzung stellen wir grundlegende Jitter-Definitionen und -Kategorien bereit, beschreiben die Instrumententypen, die früher und heute zur Messung von Jitter verwendet werden, sowie die Stärken und Schwächen der Jitter-Messinstrumente.

Teil 2 – Erfahren Sie mehr über Jitter am Edge

In dieser Sitzung veranschaulichen wir Beispiele für die Messung von Jitter mithilfe von Erfassungen, die aus einer oder zwei Kanten bestehen. Verschiedene Messtechniken werden mit ihren historischen Vorläufern beschrieben. Der Einfluss des Instruments auf die Genauigkeit der Jitter-Messung wird ebenfalls diskutiert.

Teil 3 – Die langfristige Perspektive von Jitter

In dieser Sitzung nutzen wir den Einsatz moderner digitaler Oszilloskope, um Jitter-Messungen schneller und genauer durchzuführen. Wir berechnen außerdem Statistiken, betrachten Histogramme von Datensätzen und sehen, wie sich Jitter mit der Zeit oder Frequenz ändert, um die zugrunde liegenden Jitter-Pathologien besser zu verstehen.

Teil 4 – Praktische Jitter-Debug- und Messbeispiele

In dieser Sitzung stellen wir die Spektralanalyse von Jitter als Debug-Tool vor und bieten weitere praktische Beispiele für die Verwendung von Statistik- und Zeitbereichsanalysetools im Oszilloskop, um die Grundursache von Jitter-Problemen aufzudecken.

Teil 5 – Grundlagen serieller Daten-Jitter-Messungen

In dieser Sitzung stellen wir grundlegende Jitter-Definitionen und -Kategorien bereit, beschreiben die Instrumententypen, die früher und heute zur Messung von Jitter verwendet werden, sowie die Stärken und Schwächen der Jitter-Messinstrumente.

Teil 6 – Jitter-Trennung, Extrapolation und Jitter-Ansichten für serielle Daten

In dieser Sitzung beschreiben wir, wie hoch der Gesamtjitter bei einer bestimmten Bitfehlerrate (Tj@BER) ist und wie er aus Zeitintervallfehlermessungen (TIE) mithilfe von Extrapolationsmodellen abgeleitet wird. Es wird die Trennung von zufälligem Jitter (Rj) und deterministischem (Dj) erklärt, mit einer weiteren Erläuterung der Dj-Trennung in datenabhängigen Jitter (DDj), Tastverhältnisverzerrung (DCD), Intersymbolinterferenz (ISI), begrenzten unkorrelierten Jitter (BUj) und periodischer Jitter (Pj), mit Beispielen.

Teil 7 – Fortgeschrittenenkurs zu seriellen Daten-Jitter-Messungen

In dieser Sitzung tauchen wir tiefer in die verschiedenen gemessenen und extrapolierten Jitter-Ansichten ein und erläutern statistische und zeitlich variierende Ansichten von Jitter in den Rändern serieller Datenverbindungen anhand eines Augendiagramms.

De-embed und Emulation serieller Datenlinks mit Oszilloskopen

Treten Sie Teledyne LeCroy bei, um mehr über die verschiedenen Oszilloskop-De-Embedding- und Embedding-/Emulationstechniken für serielle Hochgeschwindigkeitsdatenverbindungen, Verbindungen sowie Kanäle und Oszilloskoptastköpfe zu erfahren. Wir werden die verschiedenen Arten von Werkzeugen besprechen, die üblicherweise in Oszilloskopen mit hoher Bandbreite verfügbar sind, wie z. B. De-Embedding und Emulation, die Verwendung von S-Parameter-Messdateien oder Schaltungsmodellen.

Wie man Verbindungselemente sowohl in Frequenz- als auch in Zeitdomänen ausbettet

Seien Sie bei Teledyne LeCroy dabei, wenn wir Best Practices zum Entfernen von Testvorrichtungen, Kabeln und Sonden aus seriellen Datenverbindungen und anderen Signalintegritätsmessungen beschreiben und demonstrieren. Dies ist ein äußerst wichtiger Prozess, um sicherzustellen, dass die Signalintegritätsmessungen für das DUT nicht durch die Verbindungselemente verunreinigt werden

Signalintegrität bei seriellen Hochgeschwindigkeitsdaten, Jitter-Analyse, Sonden-De-Embedding

In diesem Webinar erklären wir, wie man serielle Hochgeschwindigkeitsdaten, Signalintegrität, Entzerrung, Jitter-Messungen, Embedding und De-Embedding von Verbindungen und Sonden debuggt.

Hochgeschwindigkeits-Debugging und -Analyse serieller Daten

In diesem Seminar erklären wir, wie Sie Signalintegrität, Entzerrung, Jitter-Messungen, Einbettung und Enteinbettung von Verbindungen und Sonden bei seriellen Hochgeschwindigkeitsdaten debuggen.

So beschleunigen und verbessern Sie das Testen und Debuggen von seriellen Datensendern/-empfängern mit 16+ Gbit/s

Dieses Webinar gibt einen Überblick über einen typischen Hochgeschwindigkeitstest für serielle Datensender USB4 als Beispiel. Wir werden ein serielles Hochgeschwindigkeitsdatensignal synthetisieren, das Signal an einem virtuellen Empfänger mit einem Echtzeitoszilloskop analysieren und das virtuell empfangene Signal mit einem Live-Signal vergleichen. Wir werden die Signalintegritätsmargenanalyse sowie Jitter-, Augendiagramm-, IsoBER-Kontur- und Crosstalk-Augenmessungen überprüfen

Webinar „Grundlagen der Charakterisierung serieller Hochgeschwindigkeitsdatenverbindungen“.

Treten Sie Teledyne LeCroy bei, um mehr über die Auswirkungen serieller Hochgeschwindigkeitsdatenverbindungen auf Ihr Schaltungsdesign zu erfahren. Wir werden S-Parameter und Impedanzprofile und deren Interpretation diskutieren und dann S-Parameterdateien verwenden, um Augendiagramme und Jitter-Messungen an einem Differenzsignal durchzuführen, das durch einen Probenkanal läuft.

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